[发明专利]复合绝缘子退运评估方法

说明书

本发明公开了一种复合绝缘子退运评估方法，依据运行年限因子N1、污秽等级因子N2、降水酸度因子N3、年平均降水量因子N4、粉化程度因子N5、憎水性因子N6、断串故障率因子N7、护套电蚀缺陷率因子N8建立退运模型，若评估对象的运行年限因子N1、粉化程度因子N5、憎水性因子N6、断串故障率因子N7、护套电蚀缺陷率因子N8五个因子中任意一个因子等于1，则评估对象评估结果为退运；若评估对象的8个影响因子均不为1，则依据退运模型求解得到的退运权重的值判断是否退运。本发明不仅可以大幅降低取样和实验室材料微观试验的工作量、缩短评估周期，还可降低复合绝缘子故障率、提高供电可靠性。

技术领域

本发明属于电力工程技术领域，尤其涉及一种复合绝缘子退运评估方法。

背景技术

棒形复合绝缘子在我国架空输电线路广泛应用，其劣化问题不容忽视。自复合绝缘子问世以来，国内外众多专家就棒形复合绝缘子的老化问题开展了长期研究，提出了从微观到宏观的诸多特征参数。然而，随着复合绝缘子工艺的成熟，当前压接工艺的复合绝缘子电气和机械性能抽检试验难以发现问题。

实际运行中，复合绝缘子寿命受多种因素影响：

首先是运行年限的影响，事实上复合绝缘子出厂后，无论是否挂网运行，其材料就开始逐渐老化，挂网运行中的电场、紫外照射等因素只是加速了老化速度，因此运行年限是复合绝缘子退运需要考虑的一个因素。

表面污秽以及降水pH值对其寿命也有影响，污秽越重，一方面污秽沉积中的不利元素加速复合绝缘子硅橡胶的老化，另一方面污秽层在湿润后导电率提高，有利于电晕的发展，电晕本身及电晕产生的臭氧均会加速硅橡胶老化。降水pH值，一方面其活性离子成分有利于电晕发展，另一方面pH值越小，对复合绝缘子本体有一定腐蚀影响，特别是本体有缺陷时，pH值越小会加速缺陷的发展。

粉化程度、降水量以及憎水性对其寿命也有影响。粉化是复合绝缘子硅橡胶材料老化的外在表现，一般粉化越严重，老化也越严重。降水充沛的地区，复合绝缘子表面形成湿污层的机会就越多，湿污层有利于电晕发展，加速老化。憎水性是复合绝缘子防污的一个指标，憎水性越好，防污效果越好，憎水性降低，表示防污效果下降，因此在实际运行中，复合绝缘子的憎水性成为判断其退运与否的决定性因素，当前电网公司棒形复合绝缘子更换的依据就是其憎水性。尽管憎水性与复合绝缘子老化存在一定关系，且憎水性变差影响其闪络特性，然而憎水性的优劣并不能完全反映棒形复合绝缘子的老化程度，如有些憎水性优异的棒形复合绝缘子其表面已严重粉化，硅橡胶材料化学键断裂严重，这说明憎水性并不能唯一反映复合绝缘子的老化特征。

此外，断串率以及电蚀损缺陷率也是一个重要的影响因素，复合绝缘子断串率达到一定程度，说明该批次产品工艺或配方可能存在缺陷，不宜继续运行。复合绝缘子电蚀损缺陷率达到一定程度，说明该批次产品工艺或配方可能存在缺陷，不宜继续运行。

综上所述，复合绝缘子的寿命受多种因素影响，然而当前复合绝缘子的退运评估方法忽视了某些权重因子，而通过检测材料的退运判别技术需要取样并在实验室试验使评估变得复杂。

发明内容

本发明要解决的技术问题是，针对已知技术存在的缺陷，提供一种复合绝缘子退运评估方法，该方法只需取少量的样片就可以对复合绝缘子进行评估，且不需要对材料进行微观检测试验，可按照需要随时对在运的复合绝缘子开展评估，运行单位根据评估结果及时对达到退运阈值的复合绝缘子进行更换，避免因寿命终结造成的断串或闪络事件。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：

复合绝缘子退运评估方法，评估流程如下：

1、统计评估对象的投运年份，得到运行年限因子N1＝(评估年份-投运年份)/绝缘子的使用寿命年限；