[发明专利]一种铜掺杂高效碲化镉纳米晶太阳电池及其制备方法在审
| 申请号: | 201910210870.4 | 申请日: | 2019-03-20 |
| 公开(公告)号: | CN109980026A | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
| 发明(设计)人: | 覃东欢;蔡泽鑫;陈丙昌;徐澳;刘俊宏;刘笑霖 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
| 主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/0392;H01L31/18 |
| 代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 何淑珍;江裕强 |
| 地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 纳米晶 制备 碲化镉纳米晶 光活性层 背电极 窗口层 铜掺杂 修饰层 薄膜 载流子 电池转换效率 太阳电池器件 阴极 阴极界面层 给体材料 光谱响应 合金结构 欧姆接触 受体材料 阳极组成 背接触 活性层 阶梯带 界面层 有效地 衬底 势垒 掺杂 电池 玻璃 引入 应用 | ||
1.一种铜掺杂高效碲化镉纳米晶太阳电池,其特征在于,从下至上依次包括玻璃衬底、阴极、阴极界面层、窗口层、光活性层、背电极修饰层及阳极,所述背电极修饰层为ZnTe:Cu薄膜。
2.根据权利要求1所述的一种铜掺杂高效碲化镉纳米晶太阳电池,其特征在于,所述阴极为ITO层,涂覆在玻璃衬底上,厚度为80-200nm;所述阴极面层为ZnO薄膜,厚度为30-50nm;所述窗口层为CdSe薄膜,厚度为70-90nm;所述光活性层为CdTe薄膜,厚度为400-500nm。
3.根据权利要求1所述的一种铜掺杂高效碲化镉纳米晶太阳电池,其特征在于,所述背电极修饰层为ZnTe:Cu薄膜,所述背电极修饰层包括厚度为20-50nm的ZnTe薄膜和厚度为1-2nm的Cu薄膜。
4.根据权利要求1所述的一种铜掺杂高效碲化镉纳米晶太阳电池,其特征在于,所述阳极为Au,厚度为60-200nm。
5.一种制备权利要求1-4任一项所述铜掺杂高效碲化镉纳米晶太阳电池的方法,其特征在于,包括如下的步骤:
(1)玻璃衬底的清洗
将附有ITO层的玻璃衬底依次浸泡在甲苯、丙酮中进行超声处理,然后再用水超声洗涤直至至ITO层表面无气泡,然后置于异丙醇中超声振荡,烘干,得到清洗后的ITO导电玻璃衬底;
(2)制备ZnO前驱体
采用溶胶-凝胶法制备ZnO前驱体;
(3)制备ZnO薄膜
将步骤(2)中得到的ZnO前驱体沉积到步骤(1)所述清洗后的ITO导电玻璃衬底的ITO层上,进行热处理,然后放入丙酮中超声处理;吹干得到含阴极界面层的基片;
(4)配制CdSe纳米晶溶液和CdTe纳米晶溶液
采用溶剂加热法制备CdSe纳米晶溶液和CdTe纳米晶溶液;
(5)制备窗口层
将步骤(4)得到的CdSe纳米晶溶液分散过滤后,沉积到步骤(3)中所述阴极界面层上,得到附有窗口层的基片,然后将附有窗口层的基片置于异丙醇中超声处理;
(6)制备光活性层
将步骤(4)得到的CdTe纳米晶溶液分散过滤后,沉积到步骤(5)所述附有窗口层的基片的窗口层上,得到光活性层,在光活性层上旋涂饱和的CdCl2甲醇溶液后进行热处理,然后在甲醇中超声处理,从而优化光活性层,得到ITO/ZnO/CdSe/CdTe基片;
(7)制备背电极修饰层和阳极
在步骤(6)中所述的ITO/ZnO/CdSe/CdTe基片上蒸镀ZnTe、Cu作为背电极修饰层,蒸镀Au作为阳极,得到所述铜掺杂高效碲化镉纳米晶太阳电池。
6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,步骤(1)中所述超声处理的超声频率为为35KHz-40KHz,超声处理的时间为5-25min;所述超声洗涤的次数为5-8次,超声洗涤的超声频率为35KHz-40KHz,每次超声洗涤的时间为5-15min;所述超声振荡的超声频率为35KHz-40KHz,超声振荡的时间为5-15min。
7.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,步骤(2)中所述油浴处理的温度为75-85摄氏度,油浴处理的时间为50-70min。
8.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,步骤(3)中所述沉积的方式包括旋涂、刷涂以及喷涂;步骤(3)所述热处理为在180-220℃处理10-15分钟,再390-410℃加热10-15分钟,然后冷却至室温;步骤(3)所述超声处理的超声频率为35KHz-40KHz,超声处理的时间为5-15min。
9.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,步骤(5)中所述沉积的方式包括旋涂、刷涂以及喷涂;所述超声处理的超声频率为35KHz-40KHz,超声处理的时间为2-4min。
10.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,步骤(6)中所述CdCl2的甲醇溶液为饱和溶液;所述热处理的温度为330-350摄氏度,热处理的时间为25-30min;所述超声处理的超声频率为35KHz-40KHz,所述超声处理的时间为2-4min。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





