[发明专利]一种激光清洗系统及方法

说明书

本发明提供一种激光清洗系统及方法，光谱仪通过第一激光探头收集第一调Q激光器投射在清洗样品上的光谱信息，控制终端分析清洗样品的待清洗样品上的涂层的厚度和各类元素的比例，进行比较，能够判断涂层厚度及涂层种类，根据判断结果预设输出激光的参数，控制激光清洗头射出预设能量强度的一束激光，把待清洗样品上的涂层从清洗样品表面去除，待清洗完成后，从第二调Q激光器投射另外一束激光，通过第二激光探头收集光谱信息，分析涂层的厚度及元素比例，从而判断是否清洗干净，是否需要二次清洗。采用激光诱导击穿光谱技术可以达到预处理的效果，且对样品表面损伤小，能够实现在线非接触检测。

技术领域

本发明涉及激光清洗技术领域，尤其涉及一种激光清洗系统及方法。

背景技术

激光清洗作为一种绿色环保型清洗方法，被誉为“21 世纪最具潜力清洗技术”。与传统的清洗方法相比，具有清洗效果好、控制精度高、应用范围广、运行成本低、清洗效率高、不污染环境等优点。

然而在激光清洗前，存在一个相对不可或缺的步骤，即需要对每个工件表面进行分析和判断而后通过调整相应参数，才能获得最佳激光清洗工艺参数。整个过程相对复杂繁琐，极大降低激光清洗的工作效率。

采用传统在线监测方法又会增大设备复杂程度，操作风险过程繁琐，加设备成本，不利于激光清洗产业化推广。

发明内容

为了克服上述现有技术中的不足，本发明提供一种激光清洗系统，包括：连接机构，控制终端，光谱仪以及第一激光探头；

连接机构上设有第一调Q激光器以及激光清洗头；

光谱仪，第一调Q激光器以及激光清洗头分别与控制终端通信连接；

光谱仪与第一激光探头通信连接；

控制终端控制第一调Q激光器向清洗样品上投射第一预设阈值的光谱量值，光谱仪通过第一激光探头收集第一调Q激光器投射在清洗样品上的光谱信息，并将所述光谱信息传送至控制终端；

控制终端分析清洗样品的待清洗样品上的涂层的厚度和各类元素的比例，将待清洗样品上的涂层的厚度和各类元素比例对应与已存好的数据进行比较，判断涂层厚度及涂层种类，根据判断结果预设输出激光的参数：激光清洗头射出预设能量强度的一束激光，把待清洗样品上的涂层从清洗样品表面去除。

进一步需要说明的是，本发明还包括：第二激光探头；

连接机构上还设有第二调Q激光器；

第二调Q激光器与控制终端通信连接；

光谱仪与第二激光探头通信连接；

控制终端还用于待完成一次清洗后，控制终端控制第二调Q激光器向清洗样品上投射第二预设阈值的光谱量值，光谱仪通过第二激光探头收集第二调Q激光器投射在清洗样品上的光谱信息，并将所述光谱信息传送至控制终端；

控制终端再次分析清洗样品的待清洗样品上的涂层的厚度和各类元素的比例，将待清洗样品上的涂层的厚度和各类元素比例对应与已存好的数据进行比较判断是否满足预设参数阈值，如满足预设参数阈值，停止清洗；

如不满足预设参数阈值，根据判断结果预设输出激光的参数，激光清洗头再次射出预设能量强度的一束激光，把待清洗样品上的涂层从清洗样品表面去除；循环上述进程直至满足预设参数阈值。

进一步需要说明的是，控制终端设有数据库；

数据库用于储存控制终端接收的数据信息以及各类数据的预设阈值信息。

进一步需要说明的是，连接机构包括：基座，基座上连接有两根平行设置的立柱，两根平行设置立柱之间连接有水平横梁；