[发明专利]环形缩距天线测试装置在审
| 申请号： | 201910197830.0 | 申请日： | 2019-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN111693790A | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 张道治 | 申请（专利权）人： | 张道治 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人： | 张雅军;孙金瑞 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 环形 天线 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种环形缩距天线测试装置，其特征在于，包含：
一环形的主反射面；
至少一讯号馈入器，与该环形的主反射面间隔设置；及
至少一辅反射面，其表面几何形状由该主反射面的表面公式及所述讯号馈入器的位置共同定义，
三者相互配合用于产生多个不同方向入射之平面波于一测试静区，供多个天线接收或发射之场型量测之用。
2.根据权利要求1所述的环形缩距天线测试装置，其特征在于，该环形的主反射面由两正交之曲线构成，之一曲线的轨迹为圆线，其圆心在该测试静区的一中心轴线上，另一曲线的轨迹为拋物线、双曲线、椭圆线、圆线、及可用公式表示之曲线其中之一。
3.根据权利要求1所述的环形缩距天线测试装置，其特征在于，该环形的主反射面由二曲线构成，一第一曲线为圆形曲线，圆心在测试静区中心轴线上。
4.根据权利要求3所述的环形缩距天线测试装置，其特征在于，该环形的主反射面的另一第二曲线为拋物线公式。
5.根据权利要求3所述的环形缩距天线测试装置，其特征在于，该环形的主反射面的另一第二曲线为双曲线公式。
6.根据权利要求3所述的环形缩距天线测试装置，其特征在于，该环形的主反射面的另一第二曲线为椭圆线公式。
7.根据权利要求3所述的环形缩距天线测试装置，其特征在于，该环形的主反射面的另一第二曲线为可用公式表示之曲线。
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