[发明专利]动平衡试验兼校正装置在审

专利信息
申请号: 201910197828.3 申请日: 2019-03-15
公开(公告)号: CN110274763A 公开(公告)日: 2019-09-24
发明(设计)人: 梶川厚史;内藤慎哉 申请(专利权)人: 岛津产业机械系统株式会社
主分类号: G01M13/045 分类号: G01M13/045
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 动平衡试验 校正装置 校正部 旋转轴 钻头 校正 方向独立 方向延伸 改善装置 输送工件 钻孔机构 工作流 孔加工 校正面 正交的 移动
【说明书】:

提供一种动平衡试验兼校正装置,该动平衡试验兼校正装置能够缩短校正部的不平衡的校正所需要的时间,改善装置整体的工作流。动平衡试验兼校正装置包括:动平衡试验部(1),其测定具备旋转轴的工件(100)的不平衡的方向和量;校正部(3),其基于利用动平衡试验部(1)测定出的工件(100)的不平衡的方向和量,通过对工件(100)的一对校正面进行孔加工,从而校正工件(100)的不平衡;以及输送部(2),其在动平衡试验部(1)与校正部(3)之间输送工件(100)。校正部(3)具备具有钻头(37)的一对钻孔机构(3A、3B)。各钻头(37)能够在与工件(100)的沿Z方向延伸的旋转轴正交的面内沿XY方向独立地移动。

技术领域

本发明涉及一种动平衡试验兼校正装置,该动平衡试验兼校正装置在对具备旋转轴的工件进行了动平衡试验之后,基于该动平衡试验的结果校正不平衡。

背景技术

在以往的动平衡试验机中,利用分别配置于在两端支承工件的旋转轴的左右的轴承的振动检测传感器(传感器(pick-up))检测通过使具备旋转轴的工件旋转而产生的不平衡信号。然后,根据检测出的不平衡信号的振幅值,求出工件的左右两面的不平衡的大小。此外,基于通过利用非接触传感器检测在工件的表面标注的标记等旋转基准位置而得到的旋转基准脉冲与所述左右的不平衡信号之间的相位关系,求出工件的左右两面的不平衡的方向(角度)(参照专利文献1)。

此外,在以往的不平衡校正装置中,具有如下结构:基于利用动平衡试验机检测出的不平衡的大小和方向,通过对工件的沿与旋转轴正交的方向延伸的一对校正面进行孔加工,从而获得平衡(参照专利文献2)。

在利用这样的校正装置进行孔加工的情况下,能够采用如下结构:将工件利用保持构件保持并固定于预定位置,并且使钻孔机构在与工件的旋转轴正交的面内沿彼此正交的两个方向分别独立地移动,从工件的一个校正面进行孔加工(参照专利文献2的图11)。此外,也可以采用如下结构:将工件利用保持构件保持并固定于预定位置,并且利用配置于工件的两侧的钻孔机构,同时从工件的两侧的校正面进行孔加工(参照专利文献2的图1)。

另一方面,在从工件的两侧进行孔加工的不平衡校正装置中,在以不同的角度位置对一个校正面和另一个校正面进行孔加工的情况下,使用具备使工件以其旋转轴为中心旋转的旋转机构的校正装置。在这样的校正装置中,具有如下结构:在对工件的一个面即工件的第1校正面利用第1钻孔机构进行了孔加工之后,利用旋转机构使工件旋转而变更工件的旋转角度位置,随后,利用第2钻孔机构对工件的与第1校正面相反的那一侧的第2校正面进行孔加工。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2001-83033号公报

专利文献2:日本特开平10-307071号公报

发明内容

发明要解决的问题

在从工件的两侧进行孔加工的不平衡校正装置中,对于以不同的角度位置对一个校正面和另一个校正面进行孔加工的校正装置而言,需要在对工件的一个校正面进行了孔加工之后,使工件旋转,随后,从工件的另一个校正面进行孔加工,因此产生不平衡的校正耗费时间这样的问题。

通常,成对地使用上述的动平衡试验机和校正装置,在对某一工件进行动平衡试验的期间,对另一工件进行不平衡的校正作业,将校正了不平衡的工件再次输送至动平衡试验机并进行动平衡试验。在这样的情况下,在不平衡的校正作业所需要的时间为动平衡试验所需要的时间以上的情况下,产生整体的工作流恶化这样的问题。

本发明是为了解决上述问题而完成的,其目的在于,提供一种动平衡试验兼校正装置,其具备动平衡试验部和校正部,其中,该动平衡试验兼校正装置能够缩短校正部的不平衡的校正所需要的时间,改善装置整体的工作流。

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