[发明专利]航天器对接通道的保压检漏方案的验证装置和验证方法有效

专利信息
申请号: 201910193485.3 申请日: 2019-03-14
公开(公告)号: CN109827718B 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 武越;郭芹良;刘国青;王晶;许忠旭;孙娟;黄威 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01M3/26 分类号: G01M3/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 对接通道 航天器 保压 真空容器 检漏 验证装置 验证 复压 漏率 连通 模拟航天器 精度数据 模拟系统 气压检测 温度检测 真空环境 气压差 有效地 泄压 合理性
【权利要求书】:

1.航天器对接通道保压检漏方案的验证装置,其特征在于,包括:

真空容器,所述真空容器用以为航天器对接通道提供真空环境;

温度检测部分,所述温度检测部分用以对航天器对接通道内的温度进行检测;

气压检测部分,所述气压检测部分用以对航天器对接通道、真空容器之间的气压差进行检测;

泄复压系统,所述泄复压系统与所述真空容器相互连通,泄复压系统用以控制航天器对接通道的泄压和复压;

特定漏率模拟系统,所述特定漏率模拟系统与所述真空容器相互连通,特定漏率模拟系统用以模拟航天器对接通道在特定气压差范围内的特定漏率;其中,基于特定漏率模拟系统,选取远大于系统本底漏率的两个特定漏率,认为特定漏率即为对接通道的真实漏率,分别进行航天器对接通道在特定漏率下的保压检漏试验,计算对接通道的漏率,再与真实漏率对比得到保压检漏的误差,根据误差值验证保压检漏方案的合理性。

2.根据权利要求1所述的航天器对接通道保压检漏方案的验证装置,其特征在于,所述航天器对接通道内的气体温度为25℃,航天器对接通道与真空容器之间的气压差为3-95kPa。

3.根据权利要求2所述的航天器对接通道保压检漏方案的验证装置,其特征在于,所述航天器对接通道安装于所述真空容器的内部,所述航天器对接通道两侧壁分别连通有第一接口和第二接口;所述第一接口与所述特定漏率模拟系统连通,所述第二接口与所述泄复压系统连通,且所述第二接口与所述泄复压系统之间安装有第五电磁阀;所述航天器对接通道的顶部对称开设两个工艺堵口,所述航天器对接通道的一端为被动端堵盖密封面,所述航天器对接通道的另一端为主动端堵盖密封面,所述主动端堵盖密封面的底面为对接面。

4.根据权利要求3所述的航天器对接通道保压检漏方案的验证装置,其特征在于,所述特定漏率模拟系统包括第一电磁阀、质量流量计、第二电磁阀、第一针阀、第三电磁阀、第二针阀以及第四电磁阀;所述第一电磁阀与所述第一接口相互连通;所述质量流量计单独为通道一;所述第二电磁阀、所述第一针阀依次串联为通道二;所述第三电磁阀、所述第二针阀依次串联为通道三;通道一、通道二以及通道三之间相互并联,且通道一、通道二以及通道三的入口端均连通至第一电磁阀、出口端均连通至第四电磁阀。

5.根据权利要求4所述的航天器对接通道保压检漏方案的验证装置,其特征在于,所述温度检测部分包括温度检测元件和温度数采仪;所述温度检测元件安装于所述真空容器的内部,所述温度检测元件通过通信电缆连接至所述温度数采仪。

6.根据权利要求5所述的航天器对接通道保压检漏方案的验证装置,其特征在于,所述气压检测部分包括第一真空检测元件、第二真空检测元件和气压数采仪;所述第一真空检测元件设于所述航天器对接通道的侧壁,所述第二真空检测元件设于所述真空容器的顶面,所述第一真空检测元件、所述第二真空检测元件相互单独设置,且所述第一真空检测元件、所述第二真空检测元件均通过通信电缆连接至所述气压数采仪。

7.根据权利要求6所述的航天器对接通道保压检漏方案的验证装置,其特征在于,所述真空容器一侧壁连通有第一真空法兰、第二真空法兰,且所述真空容器的另一侧壁连通第三真空法兰和穿舱电连接器;所述第一接口、所述第一真空法兰以及所述第一电磁阀依次连通;所述第四电磁阀与所述第二真空法兰连通,所述第二接口、所述第二真空法兰以及所述第五电磁阀依次连通;所述温度检测元件通过所述穿舱电连接器连接至所述温度数采仪,所述第一真空检测元件、所述第二真空检测元件均通过所述穿舱电连接器连接至所述气压数采仪。

8.根据权利要求1-7中任一项的航天器对接通道保压检漏方案的验证装置进行航天器对接通道的保压检漏方案验证的方法,其特征在于,包括:

测定系统漏率;

测定航天器对接通道本底漏率Q0

测定航天器对接通道在标准漏孔下漏率Q;

测定航天器对接通道在标准漏孔下漏率Q;

利用保压法进行漏率计算以及误差计算。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京卫星环境工程研究所,未经北京卫星环境工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910193485.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top