[发明专利]一种红外光学系统外部杂散光测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种红外光学系统外部杂散光测试装置，其特征在于：包括光源、平行光管、转台、滑动导轨、第一支架、第二支架、透镜安装座、显微系统、探测器，所述光源安装于平行光管下方，所述平行光管包括主反射镜和次反射镜，所述转台与平行光管之间由第一支架连接，所述滑动导轨安装在转台上，所述滑动导轨上安装有透镜安装座和第二支架，所述显微系统安装在第二支架上，所述探测器安装在显微系统像面上，所述光源、转台、滑动导轨、显微系统、探测器之间电连接。

2.根据权利要求1所述的红外光学系统外部杂散光测试装置，其特征在于：所述光源的核心器件为黑体光源，发出的光为3-5μm中波红外。

3.根据权利要求1所述的红外光学系统外部杂散光测试装置，其特征在于：所述平行光管为离轴反射式平行光管，可将光源发出的光经主反射镜和次反射镜反射为平行光束。

4.根据权利要求1所述的红外光学系统外部杂散光测试装置，其特征在于：所述转台为数控回转工作台，可带动滑动导轨、透镜安装座、第二支架、显微系统、探测器水平同步回转。

5.根据权利要求1所述的红外光学系统外部杂散光测试装置，其特征在于：所述滑动导轨为数控直线导轨，可调节透镜安装座、显微系统及探测器之间的距离。

6.根据权利要求1所述的红外光学系统外部杂散光测试装置，其特征在于：所述透镜安装座为三爪可调透镜安装座，可夹持红外光学系统，三爪可调透镜安装座可在水平方向旋转来调节红外光学系统光轴方向。

7.根据权利要求1所述的红外光学系统外部杂散光测试装置，其特征在于：所述探测器的核心器件为红外焦平面阵列探测器，可对光源发出的光以及外部杂散光进行成像、数据储存及分析。

8.根据权利要求1所述的红外光学系统外部杂散光测试装置，其特征在于：所述平行光管、显微系统以及探测器依次设置于同一光轴上。

9.一种红外光学系统外部杂散光测试方法，其特征在于，按以下步骤进行：

(1)将红外光学系统外部杂散光测试装置置于暗室(即无外部杂散光环境)中，将红外光学系统安装在透镜安装座上；

(2)开启光源，光源出射光线进入平行光管中，依次经过平行光管中的次反射镜和主反射镜反射变为平行光束，通过调整转台和透镜安装座，使平行光管、红外光学系统、显微系统、探测器位于同一光轴上；

(3)通过调整滑动导轨使光源发出的光成像在探测器上，探测器记录成像图像数据；

(4)在暗室中引入外部杂散光到红外光学系统外部杂散光测试装置，调整外部杂散光源相对于光轴在水平方向以θ角度从平行光管后入射进入红外光学系统，成像到探测器像面上，探测器记录图像数据。