[发明专利]一种辐射探测装置在审

专利信息
申请号: 201910185562.0 申请日: 2019-03-12
公开(公告)号: CN109884683A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 朱玉珍;姜浩;王侃 申请(专利权)人: 苏州瑞派宁科技有限公司
主分类号: G01T1/167 分类号: G01T1/167;G01T1/202;G01T7/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215163 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 探测器 探测单元 手部 足部 支架 工控机 辐射探测装置 两组 电源 探测器连接 辐射检测 辐射探测 时长 探测
【说明书】:

发明提供一种辐射探测装置,包括支架、手部探测单元、足部探测单元、工控机和电源,支架具有相对的顶部和底部;手部探测单元设置于支架的顶部,手部探测单元包括两组手部探测器,两组手部探测器分别设置于顶部相对的两侧,每一组手部探测器分别包括两个探测器,每一组手部探测器中的两个探测器之间具有探测空隙;足部探测单元设置于支架的底部,足部探测单元包括两个足部探测器;工控机分别与探测器和足部探测器连接以处理探测器和足部探测器所接收到的辐射探测信号;电源分别与手部探测单元、足部探测单元和工控机连接。本发明极大地缩短了辐射检测时长,操作简便。

技术领域

本发明涉及辐射探测技术领域,更具体地涉及一种用于探测电离辐射的辐射探测装置。

背景技术

电离辐射是指一切能引起物质电离的辐射总称,包括α射线、β射线、γ射线、X射线、中子射线等。电离辐射分为直接致电离辐射和间接致电离辐射,其中,α射线、β射线、质子等带电荷,可以直接引起物质电离;X射线、γ光子和中子等不带电荷,但是在与物质作用时产生“次级粒子”从而使物质电离。随着核技术的发展,电离辐射在生活中的应用越来越普遍,比如工作场所、实验室、医院、同位素生产厂房、工作台面、地板、墙壁、手、衣服等表面的α、β放射性污染。然而,人体组织遭受电离辐射后会导致细胞死亡、损伤,甚至转化成癌细胞,从而成为很多疑难疾病的隐形杀手,对人体健康有很大的影响。因此,可以通过电离辐射探测进行电离辐射预警,避免或者减少人体遭受电离辐射的伤害。

现有技术中通常采用表面污染探头等仪器探测核电站、核处理厂、核废料仓库、医院的放射科室等区域的电离辐射,重点检测接触人员的手部、脚部及衣物等部位的表面是否受到放射性污染,当手足、衣物重点部位表面的电离辐射不超过安全阈值时,人员方可离开,从而确保安全。然而,目前常见的污染检测仪的设计方案中仅在手部设计两块探测器,无法保证手心、手背同时检测,检测过程中手心、手背需要分开检测,增加了检测时间,也间接导致了检测结果不够准确的问题。

另外,现有技术中的检测仪器往往采用固定结构形式,探测器位置相对固定,对于不同身高不同体型的受检人员,在使用时会产生不同的动作,导致探测结果不够准确,同时舒适度不足,操作不够便捷。

发明内容

本发明的目的是提供一种辐射探测装置,从而解决上述最少一种问题。

为了解决上述技术问题,本发明的技术方案是提供一种辐射探测装置,该辐射探测装置包括支架、手部探测单元、足部探测单元、工控机以及电源,所述支架具有相对的顶部和底部;所述手部探测单元设置于所述支架的顶部,所述手部探测单元包括两组手部探测器,两组所述手部探测器分别设置于所述顶部相对的两侧,每一组所述手部探测器分别包括两个探测器,每一组手部探测器中的两个所述探测器之间具有探测空隙;所述足部探测单元设置于所述支架的底部,所述足部探测单元包括两个足部探测器;所述工控机分别与所述探测器和所述足部探测器连接以处理所述探测器和所述足部探测器所接收到的辐射探测信号;所述电源分别与所述手部探测单元、所述足部探测单元和所述工控机连接。

根据本发明的一个实施例,每一组所述手部探测器中的两个所述探测器之间相互平行。

根据本发明的一个实施例,每个所述探测器容置于一探测器盒体内,一探测器网孔板固定于所述探测器盒体的其中一个表面上,所述探测器的探测面与所述探测器网孔板对应。

根据本发明的一个实施例,每一组所述手部探测器中的两个所述探测器的探测面面对彼此设置。

根据本发明的一个实施例,所述探测器网孔板上设置有若干孔洞,所述孔洞的总面积不小于所述探测面面积的60%。

根据本发明的一个实施例,所述探测空隙内设置有红外感应器,所述红外感应器固定在所述支架的顶部,所述红外感应器与所述工控机连接。

根据本发明的一个实施例,两个所述足部探测器相互平行排列,每一个所述足部探测器包含若干个闪烁晶体以及与闪烁晶体耦合的光电转换器件。

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