[发明专利]一种高性能RTK处理技术方法有效
| 申请号: | 201910173684.8 | 申请日: | 2019-03-08 |
| 公开(公告)号: | CN110068848B | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
| 发明(设计)人: | 包学兵;崔常福 | 申请(专利权)人: | 江苏北斗星通汽车电子有限公司 |
| 主分类号: | G01S19/43 | 分类号: | G01S19/43 |
| 代理公司: | 苏州国卓知识产权代理有限公司 32331 | 代理人: | 明志会 |
| 地址: | 223800 江苏省宿迁*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 性能 rtk 处理 技术 方法 | ||
1.一种高性能RTK处理技术方法,其特征在于:包括建立电离层、对流层和多径误差模型,具体方法为:
S1:建立双差的RTK观测模型,实时估计用户和基准站间的基线向量以及电离层参数;
对GNSS双频测量数据通过载波平滑码伪距、硬件延迟估计、倾斜垂直转化获得接收机至卫星线路与电离层穿刺点的垂直电离层延迟参数,步骤为:
S11:使用载波相位观测量的变化值平滑码观测量;
S12:用户接收机对接收的测量值进行载波平滑;
S2:选择待测区域的多个参考点和多颗参考卫星,将每个参考点对应每颗参考卫星在传播路径上的对流程延迟转化为该参考站点对应于每颗卫星在对流层穿刺点处的对流层延迟;
S3:避开易产生多路经环境的基站,在合适的基站内采用抗多路径误差的仪器设备。
2.根据权利要求1所述的一种高性能RTK处理技术方法,其特征在于:所述步骤S1还包括确定双差电离层残差约束模型,将双差的电离层残差当作未知参数进行实时估计,并附加先验约束,空间域和时间域的信息约束,消除双差电离层残差影响。
3.根据权利要求1所述的一种高性能RTK处理技术方法,其特征在于:所述步骤S2中待测区域的基准站和参考卫星数量对应。
4.根据权利要求1所述的一种高性能RTK处理技术方法,其特征在于:所述步骤S1中电离层还需进行信息约束,采用Klobuchar模型或Bent模型,利用IGMAS分析中心提供的实时电离层模型进行先验信息约束。
5.根据权利要求1所述的一种高性能RTK处理技术方法,其特征在于:所述步骤S12中平滑同时同捕获过程一起执行。
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