[发明专利]一种可控源电磁测量方法、装置及其存储介质有效
| 申请号: | 201910162044.7 | 申请日: | 2019-03-05 |
| 公开(公告)号: | CN109884714B | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
| 发明(设计)人: | 李建华;林品荣;郑采君;李勇;丁卫忠;刘昕卓;孙夫文 | 申请(专利权)人: | 中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所 |
| 主分类号: | G01V3/08 | 分类号: | G01V3/08 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 陶洪 |
| 地址: | 300000 天津市东丽区东丽湖*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 可控 电磁 测量方法 装置 及其 存储 介质 | ||
本申请实施例提供一种可控源电磁测量方法、装置及其存储介质,涉及电磁勘探技术领域。该方法包括:通过布设在第一激发场源辐射范围内的第一测区中的检测点,获取带有所述第一激发场源的场源效应的所述第一测区中的第一测区数据;通过布设在第二激发场源辐射范围内的第二测区中的检测点,获取带有所述第二激发场源的场源效应的第二测区的第二测区数据,所述第一激发场源位于所述第二测区内,所述第二激发场源位于所述第一测区内,勘探目标在所述第一测区或所述第二测区内;基于所述第一测区数据和所述第二测区数据确定勘探目标的三维数据。上述方法同时基于两个激发场源和两个测区数据的综合处理,能够改善场源效应对三维反演的影响。
技术领域
本申请涉及电磁勘探技术领域,具体而言,涉及一种可控源电磁测量方法、装置及其存储介质。
背景技术
传统的大地电磁勘探利用天然场源,因此不需要考虑场源的布设。陆上可控源电磁法勘探是采用人工场源进行激发从而获得地下信息的一类方法的统称,由于采用的是人工场源,相较于天然场源电磁法,其观测的信号较强,信噪比较高,具有抗干扰能力强、分辨率高、工作效率高,适宜于立体观测等优点,且应用前景广阔,从而被广泛应用在地质普查、油气勘探、地热、金属矿床、水文、环境等方面。进一步的,考虑到在地质条件复杂、干扰发育、信噪比低的复杂区,三维勘探成本高昂且有时无法进行有效作业,因此,传统以长导线为激发源的电磁法勘探(例如:瞬变电磁法、人工源音频大地电磁法等)多采用单边和单个场源单次激发一次覆盖的观测方式,这种单线的二维采集的方式得不到任何侧面信息,因此不利于最终的反演成像。
当场源下方、场源和接收点之间存在电性不均匀地质体时,都会引起测区内测点上的电场与磁场及视电阻率和阻抗相位数据的畸变,这些畸变通常称为场源效应。由于使用了人工源场,无法避免会出现场源对勘探结果的影响,现有的可控源勘探方法无法排除场源效应对电磁场数据以及三维反演的影响。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例的目的在于提供一种可控源电磁测量方法、装置及其存储介质,用于改善现有的可控源勘探方法中无法排除场源效应对电磁场数据以及三维反演的影响的问题。
本申请实施例提供了一种可控源电磁测量方法,所述方法包括:通过布设在第一激发场源辐射范围内的第一测区中的检测点,获取带有所述第一激发场源的场源效应的所述第一测区中的第一测区数据;通过布设在第二激发场源辐射范围内的第二测区中的检测点,获取带有所述第二激发场源的场源效应的第二测区的第二测区数据,所述第一激发场源位于所述第二测区内,所述第二激发场源位于所述第一测区内,勘探目标在所述第一测区或所述第二测区内;基于所述第一测区数据和所述第二测区数据确定所述勘探目标的三维数据。
在上述实现过程中,在获取与第一激发场源对应的第一测区数据时,同时获取与第二激发场源对应的第二测区的第二测区数据,基于第二测区数据确定第一激发场源地下及其与第一测区中检测点之间地质体的具体情况,基于第一测区数据确定第二激发场源地下及其与第二测区中检测点之间地质体的具体情况,从而在三维反演过程中改善场源地下地质体等对勘探结果带来的场源效应影响,提高三维数据采集的准确度。
进一步地,在通过布设在第一激发场源辐射范围内的第一测区中的检测点,获取带有所述第一激发场源的场源效应的所述第一测区中的第一测区数据之前,所述方法还包括:基于所述勘探目标的位置设置所述第一激发场源;基于所述第一激发场源的位置设置所述第二激发场源。
在上述实现过程中,分别对应勘探目标和第一激发场源的位置设置第一激发场源和第二激发场源,确保勘探目标和第一激发场源的地下地质体均在激发场源的辐射范围内,从而能够同时获取勘探目标和第一激发场源的地下地质体数据。
进一步地,基于所述勘探目标的位置设置所述第一激发场源,包括:确定所述勘探目标的第一深度,在与所述勘探目标的垂直距离大于第一距离处设置第一激发场源,所述第一距离为所述第一深度的第一预设倍数,所述垂直距离为所述第一激发场源的中点与所述第一测区的垂直距离。
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