[发明专利]激光测距标定方法、装置、系统和计算机设备有效
| 申请号: | 201910151024.X | 申请日: | 2019-02-28 | 
| 公开(公告)号: | CN111624578B | 公开(公告)日: | 2023-08-15 | 
| 发明(设计)人: | 郭磊明 | 申请(专利权)人: | 深圳市速腾聚创科技有限公司 | 
| 主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497;G01S17/08 | 
| 代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 李文渊 | 
| 地址: | 518051 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 激光 测距 标定 方法 装置 系统 计算机 设备 | ||
1.一种激光测距标定方法,其特征在于,所述方法包括:
控制多个调光玻璃的光学模式,以进行至少一个预设位置的激光测距;在激光发射光路上的预设位置集合中的每个预设位置上设置有一个调光玻璃;所述光学模式包括:透光模式和反光模式;
获取所述预设位置集合中每个预设位置的标准距离值及对应的激光测距得到的测试距离值;
根据所述预设位置集合中每个预设位置的标准距离值和对应的测试距离值,生成激光测距标定数据;
在所述激光发射光路上依次远离激光测距装置的第一预设位置、第二预设位置、第三预设位置,分别设置有一个调光玻璃;
所述控制多个调光玻璃的光学模式,以进行至少一个预设位置的激光测距,包括:
控制所述第一预设位置的调光玻璃为反光模式,以进行所述第一预设位置的激光测距;所述第一预设位置在激光发射光路上与激光测距装置距离最近;
控制所述第一预设位置的调光玻璃为透光模式,以及控制所述第二预设位置的调光玻璃为反光模式,以进行所述第二预设位置的激光测距;
控制所述第一预设位置、第二预设位置的调光玻璃为透光模式,以及控制所述第三预设位置上的调光玻璃为反光模式,以进行所述第三预设位置的激光测距。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述每个预设位置的标准距离值为所述每个预设位置与激光测距装置之间的距离值。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述根据所述预设位置集合中每个预设位置的标准距离值和对应的测试距离值,生成激光测距标定数据,包括:
根据所述预设位置集合中每个预设位置的标准距离值和对应的测试距离值,计算每个预设位置的距离校准值;
根据所述预设位置集合中每个预设位置的测试距离值和距离校准值,生成激光测距标定文件;所述激光测距标定文件存储有测试距离值和距离校准值之间的对应关系。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,控制调光玻璃的光学模式,包括:
根据预设的调光玻璃的光学模式和电压值的对应关系,确定与目标光学模式对应的电压值;
调整所述调光玻璃的施加电压为所述目标光学模式对应的电压值,以控制所述调光玻璃的光学模式为目标光学模式。
5.一种激光测距标定装置,其特征在于,所述装置包括:
调光玻璃控制模块,用于控制多个调光玻璃的光学模式,以进行至少一个预设位置的激光测距;在激光发射光路上的预设位置集合中的每个预设位置上设置有一个调光玻璃;所述光学模式包括:透光模式和反光模式;其中,在所述激光发射光路上依次远离激光测距装置的第一预设位置、第二预设位置、第三预设位置,分别设置有一个调光玻璃;
所述调光玻璃控制模块具体用于:
控制所述第一预设位置的调光玻璃为反光模式,以进行所述第一预设位置的激光测距;所述第一预设位置在激光发射光路上与激光测距装置距离最近,
控制所述第一预设位置的调光玻璃为透光模式,以及控制所述第二预设位置的调光玻璃为反光模式,以进行所述第二预设位置的激光测距,
控制所述第一预设位置、第二预设位置的调光玻璃为透光模式,以及控制所述第三预设位置上的调光玻璃为反光模式,以进行所述第三预设位置的激光测距;
测距数据获取模块,用于获取所述预设位置集合中每个预设位置的标准距离值及对应的激光测距得到的测试距离值;
标定数据生成模块,用于根据所述预设位置集合中每个预设位置的标准距离值和对应的测试距离值,生成激光测距标定数据。
6.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。
7.一种可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。
8.一种激光测距标定系统,其特征在于,所述系统包括:多个调光玻璃、激光测距装置以及如权利要求6所述的计算机设备;所述计算机设备与所述多个调光玻璃电连接,与所述激光测距装置通信连接;所述激光测距装置用于激光测距,并将激光测距得到的测试距离值发送给所述计算机设备。
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