[发明专利]一种频率测量方法、系统、装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种频率测量方法，其特征在于，包括：

根据预设采样频率对被测信号进行采样得到采样值，并根据所述采样值计算得到所述被测信号在工频整周期采样点数下的预估频率；

根据所述预估频率确定实际整周期采样点数的范围；

分别计算所述范围内各整周期采样点数对应的各段所述采样值的和值；

选取最接近于零值的所述和值对应的所述整周期采样点数作为所述实际整周期采样点数，并根据所述采样值计算得到所述实际整周期采样点数下所述被测信号的测量频率；

所述根据所述采样值计算得到所述被测信号在工频整周期采样点数下的预估频率，包括：

根据当前工频周期下的所述工频整周期采样点数个所述采样值，通过DFT算法得到基波向量的相角；

根据得到所述预估频率；

其中，f_p为所述预估频率，为所述当前工频周期下的基波向量的相角，为先前工频周期下的基波向量的相角，N为所述工频整周期采样点数，F_S为所述预设采样频率，50为电网工频，单位为Hz；

所述根据所述预估频率确定实际整周期采样点数的范围，包括：

根据确定所述实际整周期采样点数的范围；

其中，N_min为所述实际整周期采样点数的下限，N_max为所述实际整周期采样点数的上限，Floor为向下取整，Ceil为向上取整，F_S为所述预设采样频率，f_p为所述预估频率，K_rel为所述预估频率与所述被测信号的实际频率之间的最大偏差的绝对值。

2.根据权利要求1所述的频率测量方法，其特征在于，所述根据所述采样值计算得到所述实际整周期采样点数下所述被测信号的测量频率前还包括：

根据预设时间窗求取各所述实际整周期采样点数的均值，得到均值实际整周期采样点数；

对应的，所述根据所述采样值计算得到所述实际整周期采样点数下所述被测信号的测量频率，包括：

根据所述采样值计算得到所述均值实际整周期采样点数下所述被测信号的测量频率。

3.一种频率测量系统，其特征在于，包括：

采样模块，用于根据预设采样频率对被测信号进行采样得到采样值，并根据所述采样值计算得到所述被测信号在工频整周期采样点数下的预估频率；

确定模块，用于根据所述预估频率确定实际整周期采样点数的范围；

和值计算模块，用于分别计算所述范围内各整周期采样点数对应的各段采样值的和值；

选取模块，用于选取最接近于零值的所述和值对应的所述整周期采样点数作为所述实际整周期采样点数；

频率计算模块，用于根据所述采样值计算得到所述实际整周期采样点数下所述被测信号的测量频率；

所述采样模块包括：

第一计算单元，用于根据当前工频周期下的所述工频整周期采样点数个所述采样值，通过DFT算法得到基波向量的相角；

第二计算单元，用于根据得到所述预估频率；

其中，f_p为所述预估频率，为所述当前工频周期下的基波向量的相角，为先前工频周期下的基波向量的相角，N为所述工频整周期采样点数，F_S为所述预设采样频率，50为电网工频，单位为Hz；

所述确定模块具体用于：

根据确定所述实际整周期采样点数的范围；

其中，N_min为所述实际整周期采样点数的下限，N_max为所述实际整周期采样点数的上限，Floor为向下取整，Ceil为向上取整，F_S为所述预设采样频率，f_p为所述预估频率，K_rel为所述预估频率与所述被测信号的实际频率之间的最大偏差的绝对值。

4.根据权利要求3所述的频率测量系统，其特征在于，还包括：

均值计算模块，用于根据预设时间窗求取各所述实际整周期采样点数的均值，得到均值实际整周期采样点数；

对应的，所述频率计算模块具体用于：

根据所述采样值计算得到所述均值实际整周期采样点数下所述被测信号的测量频率。