[发明专利]测试单元、阵列板及显示面板COG绑定状态的监测方法

权利要求书

1.一种显示面板COG绑定状态的监测方法，其特征在于，包括以下步骤：

提供阵列板，所述阵列板包括两个以上相互间隔设置的显示面板，相邻两个所述显示面板之间及两个以上所述显示面板的外周侧具有空白区域；

在所述空白区域上设置测试单元，所述测试单元包括复制接线端子膜层，所述复制接线端子膜层为复制所述显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成，所述复制接线端子膜层包括所述显示面板的绑定区域的输入端子膜层及输出端子膜层；

将阵列板切割，以将所述测试单元与显示面板分离；

将芯片与所述测试单元绑定，监测所述芯片与所述测试单元的绑定状态，以验证所述显示面板的COG绑定状态。

2.根据权利要求1所述的显示面板COG绑定状态的监测方法，其特征在于，所述将芯片与所述测试单元绑定，监测所述芯片与所述测试单元的绑定状态，以验证所述显示面板的COG绑定状态的步骤中，通过监测所述芯片与所述测试单元的绑定阻抗来监测所述芯片与所述测试单元的绑定状态。

3.根据权利要求2所述的显示面板COG绑定状态的监测方法，其特征在于，进一步包括根据所述芯片与所述测试单元的所述绑定阻抗来调整绑定工艺条件，当所述绑定阻抗大于预设阻值时，调整所述绑定工艺条件，其中，所述预设阻值小于等于10Ω。

4.根据权利要求1所述的显示面板COG绑定状态的监测方法，其特征在于，所述将芯片与所述测试单元绑定，监测所述芯片与所述测试单元的绑定状态，以验证所述显示面板的COG绑定状态的步骤中，通过监测所述芯片与所述测试单元绑定区域的粒子状态来监测所述芯片与所述测试单元的绑定状态。

5.根据权利要求4所述的显示面板COG绑定状态的监测方法，其特征在于，进一步包括根据所述芯片与所述测试单元绑定区域的粒子状态来调整绑定工艺条件，当所述芯片与所述测试单元绑定区域的粒子数小于8和/或没有可见压痕时，调整所述绑定工艺条件。

6.根据权利要求1所述的显示面板COG绑定状态的监测方法，其特征在于，所述将芯片与所述测试单元绑定，监测所述芯片与所述测试单元的绑定状态，以验证所述显示面板的COG绑定状态的步骤中，进一步包括监测所述输入端子膜层及所述输出端子膜层各自的两侧区域的绑定状态和/或中间区域的绑定状态。

7.根据权利要求1所述的显示面板COG绑定状态的监测方法，其特征在于，所述在所述空白区域上设置测试单元，所述测试单元包括复制接线端子膜层，所述复制接线端子膜层为复制所述显示面板的绑定区域的接线端子膜层构成的步骤中，

设置的所述测试单元数量与所述显示面板的数量相同且一一对应；

或者，设置的所述测试单元的数量小于所述显示面板的数量，两个以上所述显示面板分成两组以上显示面板组，每组所述显示面板组的各所述显示面板结构相同并共同与其中一个所述测试单元对应设置。