[发明专利]数据写入方法、存储器控制电路单元与存储器存储装置有效

专利信息
申请号: 201910116652.4 申请日: 2019-02-15
公开(公告)号: CN111580741B 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 周家圣;涂嘉成;曾国铭;胡逸良 申请(专利权)人: 群联电子股份有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G06F11/10
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 罗英;臧建明
地址: 中国台湾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 数据 写入 方法 存储器 控制电路 单元 存储 装置
【说明书】:

发明提供一种数据写入方法、存储器控制电路单元与存储器存储装置。此方法包括:根据第一磁盘阵列错误检查与校正码率对数据执行第一程序化操作,将数据程序化至多个第一实体程序化单元的至少一部分中,并且产生第一磁盘阵列错误校正码;以及根据第二磁盘阵列错误检查与校正码率对程序化至该些第一实体程序化单元的至少一部分中的数据执行第二程序化操作,将数据程序化至多个第二实体程序化单元的至少一部分中,并且产生第二磁盘阵列错误校正码,其中第一磁盘阵列错误检查与校正码率不同于第二磁盘阵列错误检查与校正码率。

技术领域

本发明涉及一种用于可复写式非易失性存储器的数据写入方法及使用此方法的存储器控制电路单元与存储器存储装置。

背景技术

数字相机、移动电话与MP3播放器在这几年来的成长十分迅速,使得消费者对存储媒体的需求也急速增加。由于可复写式非易失性存储器模块(例如,快闪存储器)具有数据非易失性、省电、体积小,以及无机械结构等特性,所以非常适合内建于上述所举例的各种可携式多媒体装置中。

一般来说,可复写式非易失性存储器模块接收到主机系统发出的指令时,根据相同的磁盘阵列错误检查与校正码率(RAID ECC RATE)执行主机程序化操作及垃圾收集操作,以将数据程序化至可复写式非易失性存储器模块的实体程序化单元,并且在数据程序化至每一个实体程序化单元之后,均会对程序化至每一个实体程序化单元的数据执行一次读取验证(read verify)的操作,以判断数据是否被正确地程序化至每一个实体程序化单元。然而,在对程序化至每一个实体程序化单元的数据执行读取验证的操作的同时会占用可复写式非易失性存储器模块的频宽。若读取验证的操作失败,则需要校正错误的数据后才能继续执行主机程序化操作或者垃圾收集操作,更为耗时。因此,无论读取验证的操作是否失败,均会影响可复写式非易失性存储器模块的程序化性能,如何快速地找到不影响可复写式非易失性存储器模块的效能的数据写入方式,是本领域技术人员所欲解决的问题之一。

发明内容

本发明提供一种数据写入方法、存储器控制电路单元与存储器存储装置。

本发明的一范例实施例提出一种数据写入方法,用于可复写式非易失性存储器模块,其中可复写式非易失性存储器模块包括多个实体抹除单元,多个实体抹除单元分别包括多个实体程序化单元。此方法包括:根据第一磁盘阵列错误检查与校正码率对数据执行第一程序化操作,将数据程序化至多个第一实体程序化单元的至少一部分中,并且产生第一磁盘阵列错误校正码;以及根据第二磁盘阵列错误检查与校正码率对程序化至该些第一实体程序化单元的至少一部分中的数据执行第二程序化操作,将数据程序化至多个第二实体程序化单元的至少一部分中,并且产生第二磁盘阵列错误校正码,其中第一磁盘阵列错误检查与校正码率不同于第二磁盘阵列错误检查与校正码率。

在本发明的一范例实施例中,上述的数据写入方法中第一磁盘阵列错误检查与校正码率是依据第一数目的该些第一实体程序化单元来计算,第二磁盘阵列错误检查与校正码率是依据第二数目的该些第二实体程序化单元来计算。

在本发明的一范例实施例中,上述的数据写入方法中第一程序化操作为主机程序化操作,第二程序化操作为垃圾收集操作。

在本发明的一范例实施例中,上述的数据写入方法中第一磁盘阵列错误检查与校正码率小于第二磁盘阵列错误检查与校正码率。

在本发明的一范例实施例中,上述的数据写入方法中根据第一磁盘阵列错误检查与校正码率对数据执行第一程序化操作,将数据程序化至该些第一实体程序化单元的至少一部分中,并且产生第一磁盘阵列错误校正码的步骤还包括:读取程序化至该些第一实体程序化单元的至少一部分中的数据并且判断数据是否读取成功。

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