[发明专利]一种砷化物多结太阳能电池及其制作方法有效
申请号: | 201910108643.0 | 申请日: | 2019-02-03 |
公开(公告)号: | CN109860325B | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 吴真龙;韩效亚;李俊承;林志伟;陈凯轩 | 申请(专利权)人: | 扬州乾照光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/0735 | 分类号: | H01L31/0735;H01L31/0256;H01L31/0304;H01L31/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李婷婷;王宝筠 |
地址: | 225101*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 砷化物 太阳能电池 及其 制作方法 | ||
1.一种砷化物多结太阳能电池,其特征在于,至少包括:
三结子电池,以及位于相邻两结子电池之间的隧穿结;
其中,至少一结子电池包括基区与发射区,且所述基区为砷化物基区;
所述砷化物基区的掺杂浓度沿第一方向逐渐降低,所述第一方向为所述砷化物基区指向所述发射区的方向;
所述砷化物基区与所述发射区相邻的掺杂区,包括多个交替层叠设置的掺杂层和非掺杂层。
2.根据权利要求1所述的砷化物多结太阳能电池,其特征在于,所述掺杂区的厚度范围为:100nm-1000nm,包括端点值;
所述掺杂区的掺杂浓度范围为:1×1016/cm3-1×1017/cm3,包括端点值。
3.根据权利要求1所述的砷化物多结太阳能电池,其特征在于,所述掺杂层的厚度范围为1nm-50nm,包括端点值;所述非掺杂层的厚度范围为1nm-50nm,包括端点值。
4.根据权利要求1所述的砷化物多结太阳能电池,其特征在于,所述掺杂层的掺杂源为Zn、Mg或C。
5.根据权利要求1-4任意一项所述的砷化物多结太阳能电池,其特征在于,所述砷化物多结太阳能电池为正向三结太阳能电池,包括:Ge底电池、InGaAs中电池和顶电池,所述顶电池为AlGaInP顶电池或GaInP顶电池;
所述砷化物基区为InGaAs中电池的基区。
6.根据权利要求1-4任意一项所述的砷化物多结太阳能电池,其特征在于,所述砷化物多结太阳能电池为倒置三结太阳能电池,包括:
外延腐蚀截止层、位于所述外延腐蚀截止层上的欧姆接触层;
以及位于所述欧姆接触层上,且沿背离所述外延腐蚀截止层方向依次设置的GaInP底电池、GaAs中电池和带隙为1.0eV的InGaAs顶电池;
所述砷化物基区包括:GaAs中电池的基区和/或带隙为1.0eV的InGaAs顶电池的基区。
7.根据权利要求1-4任意一项所述的砷化物多结太阳能电池,其特征在于,所述砷化物多结太阳能电池为正向四结太阳能电池,包括:依次设置的第一子电池、第二子电池、第三子电池和第四子电池;
其中,所述第一子电池为Ge子电池;
所述第二子电池为InGaAs子电池;
所述第三子电池为AlInGaAs子电池;
所述第四子电池为AlGaInP子电池或GaInP子电池;
所述砷化物基区包括第二子电池的基区和/或第三子电池的基区。
8.根据权利要求1-4任意一项所述的砷化物多结太阳能电池,其特征在于,所述砷化物多结太阳能电池为倒置四结太阳能电池,包括:
外延腐蚀截止层、位于所述外延腐蚀截止层上的欧姆接触层;
以及位于所述欧姆接触层上,且沿背离所述外延腐蚀截止层方向依次设置的第一子电池、第二子电池、第三子电池和第四子电池;
其中,所述第一子电池为GaInP子电池;
所述第二子电池为GaAs子电池;
所述第三子电池为带隙为1.0eV的InGaAs子电池;
所述第四子电池为带隙为0.7eV的InGaAs子电池;
所述砷化物基区包括:第二子电池的基区、第三子电池的基区和第四子电池的基区中的至少一个。
9.一种砷化物多结太阳能电池制作方法,其特征在于,用于制作形成权利要求1-8任意一项所述的砷化物多结太阳能电池,所述砷化物多结太阳能电池制作方法包括:
提供衬底;
在所述衬底上形成至少三结子电池,相邻两结子电池之间形成有隧穿结;
其中,至少一结子电池包括基区和发射区,且所述基区为砷化物基区;
所述砷化物基区的掺杂浓度沿第一方向逐渐降低,所述第一方向为所述砷化物基区指向所述发射区的方向;
所述砷化物基区与所述发射区相邻的掺杂区,包括多个交替层叠设置的掺杂层和非掺杂层。
10.根据权利要求9所述的砷化物多结太阳能电池制作方法,其特征在于,所述砷化物基区的制作方法包括:
通入掺杂源,形成所述掺杂层;
断开所述掺杂源,形成所述非掺杂层;
交替多次,形成多个交替层叠的掺杂层和非掺杂层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的