[发明专利]一种自动相位调节单元及调节方法在审

专利信息
申请号: 201910107532.8 申请日: 2019-02-02
公开(公告)号: CN109709668A 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 张月;赵瑞;张学敏;邓红艳;苏云;郑国宪 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G02B26/00 分类号: G02B26/00;G02B26/06
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 张晓飞
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 透镜 自动相位调节 控制组件 无机械运动部件 光学干涉成像 润湿 非导电液体 导电液体 光线相位 合成孔径 集成性能 降低系统 内部填充 拼接子镜 相位调整 液体界面 液体透镜 新手段 形变 介电 成像 调制 响应 应用
【权利要求书】:

1.一种自动相位调节单元,其特征在于:包括自共相控制组件(1)和自共相透镜(2);自共相透镜(2)内部填充有导电液体和非导电液体,自共相透镜(2)受自共相控制组件(1)控制,使自共相透镜(2)内部液体界面发生形变,从而实现相位调整。

2.根据权利要求1所述的一种自动相位调节单元,其特征在于:所述自共相透镜(2)包括第一导电液体(3)、第二导电液体(4)、非导电液体(5)和透光玻璃(15);第一导电液体(3)、第二导电液体(4)分别位于非导电液体(5)两侧;透光玻璃(15)位于自共相透镜(2)的两侧;透光玻璃(15)放置在垂直于光轴方向,光线穿过透过玻璃(15)进入或穿出自共相透镜(2)。

3.根据权利要求2所述的一种自动相位调节单元,其特征在于:还包括位于自共相透镜(2)非通光侧四周最外侧的外形固定层(12),用于保护并固定自共相透镜(2)的形状。

4.根据权利要求3所述的一种自动相位调节单元,其特征在于:还包括电绝缘层(13);电绝缘层(13)位于外形固定层(12)内侧;电绝缘层(13)用于在第一导电液体(3)、第二导电液体(4)通电时,将其与外界电绝缘。

5.根据权利要求4所述的一种自动相位调节单元,其特征在于:还包括密封层(14);密封层(14)位于电绝缘层(13)的内侧;密封层(14)用于将第一导电液体(3)、第二导电液体(4)以及非导电液体(5)与外界隔离。

6.根据权利要求2所述的一种自动相位调节单元,其特征在于:所述自共相控制组件(1)包括第一导电液体电压控制系统(6)、第二导电液体电压控制系统(7);第一导电液体电压控制系统(6)与第一导电液体(3)联通;第二导电液体电压控制系统(7)与第二导电液体(4)联通;受相位反馈系统控制,根据相位反馈信号指令分别调整第一导电液体电压控制系统(6)、第二导电液体电压控制系统(7)电压,从而调整第一导电液体(3)与非导电液体(5)界面形状,以及第二导电液体(4)与非导电液体(5)界面形状,以改变经过自共相透镜(2)的光程,从而调节透过光线的相位。

7.根据权利要求2所述的一种自动相位调节单元,其特征在于:所述第一导电液体(3)和第二导电液体(4)为导电性离子液体或盐溶液。

8.根据权利要求2所述的一种自动相位调节单元,其特征在于:所述非导电液体(5)为非极性油溶液或高压空气。

9.一种自动相位调节方法,其特征在于步骤如下:

1)当第一导电溶液第一界面(8)和第二导电溶液第一界面(9)处于某一位置时,光线穿过自共相透镜(2)聚焦成像;

2)成像检测系统对图像进行检测,若检测得到非均匀、非直线型干涉条纹,成像检测系统形成相位调节信号,将该信号发送给相位反馈系统;

3)相位反馈系统将调节信号反馈给自共相控制组件(1),通过调整工作电压,使第一导电溶液第一界面(8)调整为第一导电溶液第二界面(10)、第二导电溶液第一界面(9)调整为第二导电溶液第二界面(11);

4)光线穿过自共相透镜(2)聚焦成新图像;

5)成像检测系统对新图像进行检测,若检测得到均匀、直线型干涉条纹,则相位调整到位,若检测得到非均匀、非直线型干涉条纹,成像检测系统再次形成相位调节信号,并将该新信号发送给相位反馈系统,使自共相控制组件(1)对第一导电溶液第二界面(10)和第二导电溶液第二界面(11)进行再次调整,直至成像检测系统检测得到均匀、直线型干涉条纹。

10.一种自动相位调节合成透镜系统,其特征在于:包括多个权利要求1-8任一所述的自动相位调节单元,代替单个大口径成像透镜,实时调节进入合成透镜系统的光线的相位,实现自共相。

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