[发明专利]一种测试系统芯片上的人工智能模块的方法和系统芯片

说明书

一种测试系统芯片上的人工智能AI模块的方法及系统芯片。在实施例中，系统芯片包括：AI模块，包括排列成二维阵列的多个处理单元，各处理单元能够完成逻辑和/或乘加运算；FPGA模块，其中，FPGA模块经接口模块与AI模块连通；FPGA模块中部分模块配置为对AI模块进行检测的检测功能；和，JTAG接口，用于根据指令启动检测功能，以便对AI模块进行测试。将FPGA与AI模块集成在同一芯片上时，AI模块的输出/输入信号可以很好的找到相应的FPGA连接点。同时，可以配置FPGA为测试电路，由此可以节约成本和提高测试速度。

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种测试系统芯片上的人工智能模块的方法及系统芯片。

背景技术

近年来，人工智能迎来一波发展浪潮。人工智能是研究使计算机来模拟人的某些思维过程和智能行为(如学习、推理、思考、规划等)的学科，主要包括计算机实现智能的原理、制造类似于人脑智能的计算机，使计算机能实现更高层次的应用。

人工智能模块一般都主要执行数据运算功能，随着设计容量的增大，处理单元越来越多，封装的晶体管也越来越多，因此有必要进行测试，以便发现其中的制造缺陷。通常需要大量的测试激励，测试时间也较长。

此外，人工智能AI模块由处理器通过总线来进行访问控制，而总线是有一定的带宽限制，这样的架构难以适应AI模块的大带宽需求。

发明内容

根据第一方面，提供一种系统芯片，包括：AI模块，包括排列成二维阵列的多个处理单元，各处理单元能够完成逻辑和/或乘加运算；FPGA模块，其中，FPGA模块经接口模块与AI模块连通；FPGA模块中部分模块配置为对AI模块进行检测的检测功能；和，JTAG接口，用于根据指令启动检测功能，以便对AI模块进行测试。

优选地，所述被配置为检测功能的模块包括测试激励生成部分，用于产生测试向量加载到待测试的AI模块；测试结果分析部分，用于对待测AI模块的测试响应信号进行压缩，产生特征向量，根据特征向量来判定AI模块有无故障；测试过程控制部分，用于启动和中止测试过程。

优选地，AI模块嵌入FPGA模块中以便复用FPGA模块的绕线架构，以便自AI模块发送数据或者接收数据，皆经由所述的复用的FPGA的绕线架构。

优选地，所述配置对AI模块进行检测的检测功能的部分FPGA模块，是FPGA模块在配置用户电路后所剩余的FPGA资源。

优选地，所述配置对AI模块进行检测的检测功能的部分FPGA模块经配置，定期中断AI模块的运算操作，而实行对AI模块的测试。

根据第二方面，提供一种测试系统芯片中AI模块的方法，系统芯片还包括FPGA模块和JTAG接口；其中，FPGA模块经接口模块与AI模块连通；所述方法包括：

把FPGA配成测试AI模块的控制电路；第一功能块配置为测试激励模块，第二功能块配置为测试过程控制模块，第三功能块配置为测试结果分析模块；

经由JTAG接口利用测试激励部分向AI模块发送测试激励；

测试结果分析模块从AI模块接收测试结果；

测试结果分析模块将测试结果压缩产生特征向量；根据特征向量来判定AI模块的各单元有无故障；

当AI模块测试完成后，再把FPGA模块配成正常功能。

优选地，其特征在于，定期中断AI模块正常操作，而实行对AI模块的测试。

通过配置FPGA为测试电路，由此可以节约成本和提高测试速度。

附图说明

图1是根据本发明实施例的测试系统芯片上的人工智能模块的电路结构示意图；

图2是FPGA电路的结构示意图；