[发明专利]测试计画的设计及测试方法

说明书

本公开公开一种测试计画的设计及测试方法，设计出包含多个输入参数、多个输出参数、多个系统参数以及每一参数所包含的所有数值电平或所有形态的测试计画，以执行测试计画来对产品进行测试与分析，因此本公开的测试计画的设计及测试方法可实现高效率的复杂性动态交叉测试，故可大幅提升产品的设计品质及在客户应用端的品质表现。

技术领域

本公开涉及一种测试方法，特别涉及一种针对产品测试的测试计画的设计及测试方法。

背景技术

于产品开发阶段及出货前，通常需先利用测试系统对产品进行各种测试，以得知产品是否存在品质缺陷，借此确保产品品质。

于产品测试时，需将一些运行参数应用于产品中来进行测试，其中产品在实际运行时所可能应用到的所有参数，以及参数中的所有可能数值若能全部进行测试，则可最佳化地确保产品品质。然而，如此的测试条件变化组合极其庞大，在现实有限资源下不可能测试庞大的条件组合，但面对各种复杂条件组合对于产品品质的效应为未知或难以在测试前得知，使得如何决定在有限资源下应该测试那些条件组合的难度很高。

再者，由于测试系统每次测试仅能针对部分参数及参数中的部分可能数值进行测试，并待测试系统完成测试后，才能再输入其它参数及其它参数中的可能数值来进行测试，如此一来，若要将所有参数及参数中的所有可能数值全部进行测试，则需耗费极长的时间在等待每一次的测试结果，故为节省测试时间，传统测试方法仅选择某些特定参数，例如产品所能承受的电压最大值、产品所能承受的电压最小值、产品所能承受的电流最大值或产品所能承受的电流最小值等，来进行测试。然而，由于传统的测试方法并无法将产品所可能应用的所有参数皆进行测试，因此无法有效保证产品的设计品质以及在客户端应用的品质表现。

此外，以电子产品为例，现今产品内的微处理器及固件的数量增加，使得应用于产品中的参数数目及每一参数中的可能数值的个数提升，然因传统的测试方法仅对特定的参数进行测试，如此一来，将导致产品在市场上发生异常或故障的几率增加。

因此，如何发展一种克服上述缺点及突破上述限制的测试计画的设计及测试方法，实为必要且迫切的需求。

发明内容

本公开的目的在于提供一种测试计画的设计及测试方法，从而减少产品出厂后在客户应用端发生各种品质问题的几率。

为达上述目的，本公开的一实施方式为提供一种测试计画的设计及测试方法，应用于测试系统中，其中测试计画的设计及测试方法包含以下步骤。首先，执行步骤S1，取得测试系统所接收的多个输入参数、所输出的多个输出参数及关于测试系统的操作特性的多个系统参数，其中每一输入参数、每一输出参数及每一系统参数分别包含至少一种数值电平或至少一种形态，且分别根据所具有的数值电平的个数或形态的个数而具有对应的参数水准。接着，执行步骤S2，根据多个输入参数的数量、多个输出参数的数量及多个系统参数的数量以及每一输入参数、每一输出参数及每一系统参数所包含的数值电平的数量或形态的数量选择标准直交表，并编辑标准直交表为转换直交表，以利用转换直交表设计包含多个输入参数、多个输出参数及多个系统参数以及每一输入参数、每一输出参数及每一系统参数所包含的所有数值电平或所有形态的测试计画，其中标准直交表包含多个原始行及多个原始列，而测试计画包含至少一测试案例，测试案例包含对应的输入参数、输出参数及系统参数以及每一输入参数、每一输出参数及每一系统参数所包含的数值电平或形态。接着，执行步骤S3，根据每一测试案例开发对应的一执行程序，并执行每一执行程序，以利用每一执行程序而将测试计画中对应的测试案例所包含的输入参数、输出参数及系统参数以及每一输入参数、每一输出参数及每一系统参数所包含的数值电平或形态应用于产品中而进行测试，并收集产品在每一执行程序执行后的运行数据及状态报告。接着，执行步骤S4，根据所取得的运行数据及状态报告建立测试结果，并将测试结果可视化，以进行产品的测试分析及排错分析。

附图说明

图1为本公开的测试计画的设计及测试方法的流程示意图。

图2为图1所示的设计及测试方法所应用的测试系统的结构示意图。