[发明专利]井筒结垢趋势预测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910098986.3 申请日: 2019-01-31
公开(公告)号: CN109779609B 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 赵力彬;崔陶峰;聂海峰;王一丹;何元元;王鹏程;陈宝新;桑利军;楚月明 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: E21B47/00 分类号: E21B47/00;E21B49/00;E21B47/002;G06F17/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 张子青;黄健
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 井筒 结垢 趋势 预测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种井筒结垢趋势预测方法,其特征在于,包括:

确定待测井的储层段连续的基质孔隙度数据;

根据预设的孔隙度数据和渗透率数据的对应关系,确定所述待测井对应的基质渗透率数据;

确定待测井的储层段纵向裂缝发育数据;

根据所述基质渗透率数据和所述纵向裂缝发育数据,确定所述待测井的储层的相段分布;所述相段包括裂缝系统可渗流相段、基质储层可渗流相段和基质储层扩散相段中的至少一种;其中,裂缝系统可渗流相是裂缝集中发育段,在该段储层相互连通;基质储层可渗流相是裂缝不发育段储层,但基质储层渗透率大于0.1毫达西的储层段;基质储层扩散相指的是裂缝不发育段储层,但基质储层渗透率小于0.1毫达西的储层段;

获取所述待测井的储层的可渗流相段总厚度、基质储层可渗流相段总厚度和基质储层扩散相段总厚度;

采用公式F=(h3)/(h1+h2+h3),确定所述待测井的结垢趋势值,其中,F为待测井结垢趋势值,h1为裂缝系统可渗流相段总厚度,h2为基质储层可渗流相段总厚度,h3为基质储层扩散相段总厚度;

根据所述待测井的结垢趋势值,确定所述待测井的结垢趋势;

当所述结垢趋势值小于0.1时,确定该油气井不结垢;当所述结垢趋势值大于或等于0.1时,确定该油气井会发生结垢;

当0.1≤F≤1时,将该范围内的趋势值进行分类,根据不同的类型确定对应的除垢方法。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定待测井的储层段连续的基质孔隙度数据,包括:

获取所述待测井的储层段岩性密度数据,所述储层段岩性密度数据通过对所述待测井进行声波时差测定得到;

根据所述储层段岩性密度数据确定所述待测井的储层段连续的基质孔隙度数据。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定待测井的储层段纵向裂缝发育数据,包括:

获取至少一种成像测井数据;

根据所述至少一种成像测井数据对所述待测井的裂纹发育程度进行解释,确定所述待测井的储层段纵向裂缝发育数据。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述基质渗透率数据和所述纵向裂缝发育数据,确定所述待测井的储层的相段分布,包括:

将所述基质渗透率数据和所述纵向裂缝发育数据输入相段经验选择模型,得到由所述相段经验选择模型输出的所述待测井的储层的相段分布。

5.一种井筒结垢趋势预测装置,其特征在于,包括:

孔隙度确定模块,用于确定待测井的储层段连续的基质孔隙度数据;

渗透率确定模块,用于根据预设的孔隙度数据和渗透率数据的对应关系,确定所述待测井对应的基质渗透率数据;

裂缝发育确定模块,用于确定待测井的储层段纵向裂缝发育数据;

相段选择模块,用于根据所述基质渗透率数据和所述纵向裂缝发育数据,确定所述待测井的储层的相段分布;所述相段包括裂缝系统可渗流相段、基质储层可渗流相段和基质储层扩散相段中的至少一种;其中,裂缝系统可渗流相是裂缝集中发育段,在该段储层相互连通;基质储层可渗流相是裂缝不发育段储层,但基质储层渗透率大于0.1毫达西的储层段;基质储层扩散相指的是裂缝不发育段储层,但基质储层渗透率小于0.1毫达西的储层段;

第三获取单元,用于获取所述待测井的储层的可渗流相段总厚度、基质储层可渗流相段总厚度和基质储层扩散相段总厚度;

计算单元,用于采用公式F=(h3)/(h1+h2+h3),确定所述待测井的结垢趋势值,其中,F为待测井结垢趋势值,h1为裂缝系统可渗流相段总厚度,h2为基质储层可渗流相段总厚度,h3为基质储层扩散相段总厚度;预测单元,用于根据所述待测井的结垢趋势值,确定所述待测井的结垢趋势;

当所述结垢趋势值小于0.1时,确定该油气井不结垢;当所述结垢趋势值大于或等于0.1时,确定该油气井会发生结垢;

当0.1≤F≤1时,将该范围内的趋势值进行分类,根据不同的类型确定对应的除垢方法。

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