[发明专利]辉度均匀检测系统及辉度均匀检测方法

说明书

本发明的辉度均匀检测系统用以对一待测物进行检测，且具有影像感测器、储存单元以及处理装置。影像感测器用以撷取包括待测物的影像，以获取位于影像中的多个灰阶信息。储存单元用以储存相应检测位置信息的多个辉度曲线。处理装置是用以依据影像及检测位置信息，从影像的灰阶信息中获取相应待测物上的多个检测位置的多个待测灰阶信息。处理装置还依据辉度曲线及待测灰阶信息分别获取在检测位置的多个预估辉度信息，并依据待测物的检测位置间的预估辉度信息的差异判断待测物的辉度是否均匀。本发明的辉度均匀检测系统及辉度均匀检测方法无须分别对各个检测位置逐一进行量测，能够有效地节省检测所需耗费的时间及减少了检测所需的人力。

技术领域

本发明关于一种检测技术，且特别是关于一种辉度均匀检测系统及辉度均匀检测方法。

背景技术

为了确保良率，在出厂前，面板皆需经过辉度检测，以确保辉度均匀。现有的检测方法多运用设有辉度量测设备的自动光学检测机台对面板上的多个检测位置分别进行量测，并根据这些检测位置所量得的辉度以判断所量测的面板的辉度是否均匀。

然而，辉度量测设备每次仅能量测面板上单一位置的辉度值，因此，若对单一面板上的所有检测位置皆进行量测则所需的时间冗长。特别是，针对每一个检测位置，辉度量测设备必须每间隔一段时间后重复测量，以取数次的平均作为在检测位置上的辉度值，导致整体测量时间相当冗长。除此之外，在量测辉度的过程中，须要测试人员辅助确认自动光学检测机台与待测面板的检测位置之间的关系，以确保自动光学检测机台的量测的位置确实为检测位置。因此，如何能够减少检测时耗时又耗力的情形为本领域技术人员所致力的课题。

「背景技术」段落只是用来帮助了解本发明内容，因此在“背景技术”段落所公开的内容可能包含一些没有构成本领域技术人员所知道的习知技术。在“背景技术”段落所公开的内容，不代表该内容或者本发明一个或多个实施例所要解决的问题，在本发明申请前已被本领域技术人员所知晓或认知。

发明内容

本发明提供一种辉度均匀检测系统及辉度均匀检测方法，以减少检测时所耗费的时间与人力成本。

为达到上述之一或部分或全部目的或是其他目的，本发明的一实施例提供辉度均匀检测系统。本发明的辉度均匀检测系统用以对一待测物进行检测，且具有影像感测器、储存单元以及处理装置。影像感测器用以撷取包括待测物的影像，以获取位于影像中的多个灰阶信息。储存单元用以储存相应检测位置信息的多个辉度曲线。处理装置连接至影像感测器及储存单元。处理装置是用以依据影像及检测位置信息，从影像的灰阶信息中获取相应待测物上的多个检测位置的多个待测灰阶信息。并且，处理装置还依据辉度曲线及待测灰阶信息分别获取在检测位置的多个预估辉度信息，并依据待测物的检测位置间的预估辉度信息的差异判断待测物的辉度是否均匀。

为达到上述之一或部分或全部目的或是其他目的，本发明的一实施例提供一种辉度均匀检测方法，用以对一待测物进行检测。辉度均匀检测方法具有下列步骤：撷取包括待测物的一影像，以获取位于影像中的多个灰阶信息；依据影像及一检测位置信息，从影像的灰阶信息中获取相应待测物上的多个检测位置的多个待测灰阶信息；依据相应检测位置信息的多个辉度曲线及待测灰阶信息分别获取在检测位置的多个预估辉度信息；以及依据待测物的检测位置间的预估辉度信息的差异判断待测物的辉度是否均匀。

基于上述，本发明的辉度均匀检测系统及辉度均匀检测方法无须分别对各个检测位置逐一进行量测，辉度均匀检测系统及辉度均匀检测方法能够有效地节省检测所需耗费的时间。并且，辉度均匀检测系统及辉度均匀检测方法不须单独对每一检测位置进行定位，因此减少了检测所需的人力。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图作详细说明如下。

附图说明

图1绘示本发明一实施例辉度均匀检测系统的系统示意图。

图2绘示本发明一实施例辉度均匀检测系统的电路连接示意图。