[发明专利]一种基于荧光光纤的测温方法

权利要求书

1.一种基于荧光光纤的测温方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、脉冲激发光源发出脉冲信号，脉冲信号透过分光镜传递至聚光镜，通过聚光镜聚光和光纤耦合器耦合后，传递至光纤探头的荧光材料；

步骤2、荧光材料受到脉冲信号的激发，发出相应的激发信号，该激发信号通过光纤耦合器耦合后传输至聚光镜；

步骤3、步骤2中的激发信号在通过聚光镜后被分光镜反射至光电二极管；

步骤4、光电二极管将受激发信号换成需要采集的荧光电信号，从而获得荧光衰减后的电压数据；

步骤5、将步骤4中采集到的数据通过最佳位置拟合算法处理，从而获得荧光寿命；

具体为：根据荧光衰减后的电压数据与荧光强度的已知关系，从而得到荧光强度I与荧光寿命τ添加误差干扰α后的测量衰减公式：

对公式(3)取对数可得：

lnI₀-ln(I-α)＝t/τ(4)

对公式(4)进行拟合，得到荧光寿命τ；

其中，误差干扰α为扰动数据，根据荧光寿命误差最小的原则，选取荧光衰减波形中不同位置的数据量进行数据拟合处理，通过实验验证在波形的某一段数据α误差相对其它位置较小，因此，采用该数值代替ln(I-α)值计算的荧光寿命误差，因此用此段数据量来代替ln(I-α)的值；

步骤6：通过步骤5获得的荧光寿命得到温度；

步骤6中的荧光寿命在标准荧光寿命表中有相应值，则该标准荧光寿命表中对应的温度值为实际测得的温度；

步骤6中的荧光寿命在标准荧光寿命表中的相邻两个标准荧光寿命之间，则使用线性内插法得出相应的温度值；

步骤6中的荧光寿命在标准荧光寿命表的参数之外，则采用线性外推值法得出相应的温度值。