[发明专利]预测光模块故障的方法、装置和设备

说明书

本申请提供了一种预测光模块故障的方法和装置。本申请根据光模块的工作参数对应的分类样本集确定工作参数的分类阈值，并根据分类阈值与待检测序列中的多个测量值的比较结果，预测该待检测序列对应的光模块在将来是否会发生故障，以便于维护人员重点关注可能发生故障的光模块，降低光模块故障对业务造成的影响。

技术领域

本申请涉及光通信领域，并且更具体地，涉及一种预测光模块故障的方法、装置和设备。

背景技术

随着光通讯技术的发展，光模块在光网络通讯、光存储、单光纤1000兆比特每秒(million bits per second，Mbps)基带传输系统(1000Base-SX)等领域有了越来越广泛的应用。

光模块在由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发送端口和接收端口，光模块发送端口把电信号转换成光信号，通过光纤输出，对端光模块的接收端口再把光信号转换成电信号。

光模块故障通常被定义为光模块自身寿命的终止。在实际应用场景中，特别是大型数据中心中，由于光模块数量众多，且光模块的故障会给关键业务带来非常大的影响。因此，工程人员通常更关注是否会出现光模块故障，以便于快速定位，及时解决问题。

因此，有必要提供一种预测光模块故障的方法。

发明内容

本申请提供一种预测光模块故障的方法，能够在故障发生之前对光模块是否会发生故障进行预测，以便于维护人员重点关注可能发生故障的光模块，降低光模块故障对业务造成的影响。

第一方面，提供了一种预测光模块故障的方法，包括：获取光模块在预设时间段内的待检测序列，所述待检测序列包括所述光模块的工作参数的多个测量值；获取所述工作参数对应的分类阈值；所述分类阈值是根据所述工作参数对应的分类样本集生成的；根据所述工作参数对应的分类阈值与所述待检测序列中的多个测量值的比较结果，确定所述光模块的第一预测结果，所述第一预测结果指示所述光模块是否进入故障模式。基于上述技术方案，根据光模块的工作参数对应的分类样本集确定工作参数的分类阈值，并根据分类阈值与待检测序列中的多个测量值的比较结果，预测该待检测序列对应的光模块在将来是否会发生故障，以便于维护人员重点关注可能发生故障的光模块，降低光模块故障对业务造成的影响

上述工作参数可以为光模块的偏置电流或光模块的接收功率，分类阈值可以为偏置电流分类阈值或接收功率分类阈值，本申请实施例可以依据偏置电流的多个测量值与偏置电流分类阈值的比较结果预测光模块在将来是否会发生故障，和/或，可以依据接收功率的多个测量值与接收功率分类阈值的比较结果预测光模块在将来是否会发生故障。

可以看出，在使用工作参数对应的分类阈值预测光模块是否进入故障模式时，只能确定光模块是否进入故障模式。在确定光模块进入故障模式时，并不能确定光模块进入故障模式后发生故障的紧急程度。针对该问题，在本申请实施例中，还可以将根据上述待检测序列生成的特征集输入故障预测模型，通过故障预测模型进一步判断光模块进入故障模式后发生故障的紧急程度。

在一种可能的实现方式中，当所述第一预测结果指示所述光模块进入故障模式时，所述方法还包括：根据所述待检测序列生成特征集；将所述特征集输入故障预测模型，得到第二预测结果，所述第二预测结果指示所述光模块预期发生故障的紧急程度。

基于上述技术方案，通过生成待检测序列的特征集，将该特征集输入至故障预测模型，该故障预测模型能够对光模块从当前时刻起，距离发生故障的紧急程度进行预测，以便于维护人员根据光模块发生故障的紧急程度，对会在较短时间内发生故障的光模块尽早处理，降低光模块故障对业务造成的影响。