[发明专利]天线阵列测试电路、相控天线阵列及测试其的方法

权利要求书

1.一种用于测试相控天线阵列的天线阵列测试电路，所述天线阵列测试电路包括：

多个存储寄存器，用于：

针对所述相控天线阵列的多个天线元件中的每个天线元件，存储对应的天线元件标识符(ID)；

存储指示出测试步骤序列的测试步骤的测试步骤标识符(ID)；

测试序列生成逻辑，其被配置为，针对所述相控天线阵列的多个天线元件中的每个天线元件，使用对应的天线元件ID和测试步骤ID的组合来确定对应的测试信号，其指示出在由所述测试步骤ID指示的测试步骤期间所述天线元件的测试状态；以及

测试控制逻辑，其被配置为，使所述相控天线阵列的多个天线元件中的每个天线元件在由所述测试步骤ID指示的测试步骤期间根据所述对应的测试信号来配置；

其中，由所述测试序列生成逻辑生成的并且指示出跨测试步骤序列的所述多个天线元件的测试状态的测试信号表示测试矩阵；并且

其中，所述天线阵列测试电路被集成在所述相控天线阵列的集成电路(IC)中。

2.根据权利要求1所述的天线阵列测试电路，其中，所述测试序列生成逻辑包括：

第一逻辑，用于针对所述相控天线阵列的多个天线元件中的每个天线元件，使用所述对应的天线元件ID来确定对应的天线元件信号；

第二逻辑，用于针对所述测试步骤序列的每个测试步骤，使用所述测试步骤ID来确定对应的测试步骤信号，

所述测试序列生成逻辑使用所述测试步骤信号和所述对应的天线元件信号，生成所述对应的测试信号，其指示出在由所述测试步骤ID指示的测试步骤期间所述天线元件的测试状态。

3.根据权利要求1所述的天线阵列测试电路，还包括：

存储器，用于针对所述测试步骤序列的每个测试步骤并且针对所述多个天线元件中的每个天线元件，来存储在所述测试步骤期间所述天线元件的测试状态的对应的指示，

针对所述多个天线元件中的每个天线元件，所述测试序列生成逻辑在所述测试步骤序列的每个测试步骤处，从所述存储器检索所述天线元件的测试状态的所述对应的指示，并且使用所述天线元件的测试状态的对应的指示来生成指示出在所述测试步骤期间所述天线元件的测试状态的对应的测试信号。

4.根据权利要求1所述的天线阵列测试电路，其中，由所述测试序列生成逻辑生成的并且指示跨所述测试步骤序列的所述多个天线元件的测试状态的测试信号表示测试矩阵。

5.根据权利要求1所述的天线阵列测试电路，其被配置为被集成在所述相控天线阵列的波束形成器集成电路中。

6.根据权利要求1所述的天线阵列测试电路，其中，所述天线元件的所述测试状态指示出要应用于所述天线元件的增益、时间延迟和相移中的至少一个。

7.根据权利要求1所述的天线阵列测试电路，其中，针对所述相控天线阵列的多个天线元件中的每个天线元件，所述多个存储寄存器存储：对应的测试相位、对应的时间延迟和对应的测试增益中的至少一个。

8.根据权利要求1所述的天线阵列测试电路，其中，所述多个存储寄存器存储测试控制值，其指示出所述相控天线阵列是处于标称状态还是测试状态。

9.根据权利要求8所述的天线阵列测试电路，其中，所述测试控制逻辑被配置为：

接收所述测试控制值；并且

如果所述测试控制值指示测试状态，则允许对所述相控天线阵列的多个天线元件的配置，否则阻止对所述相控天线阵列的多个天线元件的配置。

10.根据权利要求1所述的天线阵列测试电路，还包括递增条件检测器逻辑，其被配置为：

检测预定义条件的发生；并且

在检测到所述预定义条件的发生时，使所述测试步骤ID被修改以指代多个测试步骤中的另一个测试步骤。