[发明专利]一种电路板缺件检测装置和方法有效
申请号: | 201910081787.1 | 申请日: | 2019-01-28 |
公开(公告)号: | CN109765479B | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 胡谦谦;谢辰栋;杨洁;张砚鑫 | 申请(专利权)人: | 合肥京东方视讯科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
地址: | 230012 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电路板 检测 装置 方法 | ||
1.一种电路板缺件检测装置,其特征在于,所述装置包括定位托盘、数据处理组件、升降控制组件和检测组件;
所述定位托盘,被配置为承放并定位待测电路板;
所述数据处理组件分别与所述升降控制组件和所述检测组件连接,被配置为向所述升降控制组件发送控制信号,接收所述检测组件反馈的检测数据,并根据所述检测数据和预设参考数据得到缺件检测结果;
所述升降控制组件与所述检测组件连接,被配置为根据所述控制信号控制所述检测组件的升降;
所述检测组件,被配置为在所述升降控制组件的控制下在初始位置和预设位置之间上下移动,并根据在所述预设位置处与所述待测电路板上元器件的接触状态向所述数据处理组件反馈所述检测数据。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述检测组件包括检测面板和多个检测柱;
所述检测面板具有多个贯穿所述检测面板的通孔,所述检测面板连接所述升降控制组件,被配置为在所述升降控制组件的控制下带动所述检测柱升降,并在下降到所述预设位置后被设置为第一电平,在上升到所述初始位置后被设置为第二电平;
每个所述检测柱均包括互相连接的导电块和绝缘柱,所述绝缘柱贯穿所述通孔,并与所述通孔间隙配合,所述导电块与所述数据处理组件电连接;所述导电块,被配置为在接触所述检测面板时向所述数据处理组件反馈所述第一电平,在脱离所述检测面板时向所述数据处理组件反馈所述第二电平;所述绝缘柱,被配置为在与元器件接触时,将所述导电块支起,使所述导电块脱离所述检测面板。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述导电块所受的重力大于所述绝缘柱在所述通孔中移动的阻力;
所述导电块,还被配置为在所述检测面板上升时下落,在所述检测面板上升至所述初始位置后与所述检测面板接触。
4.根据权利要求2或3所述的装置,其特征在于,所述检测面板为金属板。
5.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,多个所述通孔在所述检测面板上阵列排布;或,
所述通孔的位置与所述待测电路板上元器件的位置一一对应。
6.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述通孔为圆孔,所述导电块为圆柱,所述绝缘柱为圆柱;
所述导电块的底面直径大于所述通孔的直径。
7.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述绝缘柱的材料包括塑料、硅胶、橡胶中的至少一种。
8.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述升降控制组件包括升降控制器和升降柱;
所述升降控制器与所述数据处理组件电连接,被配置为根据所述数据处理组件发送的所述控制信号驱动所述升降柱升降;
所述升降柱与所述检测面板连接,被配置为在所述升降控制器的控制下带动所述检测面板升降。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述升降控制组件的驱动方式包括直线电机、气压驱动、液压驱动中的至少一种。
10.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述定位托盘为矩形。
11.一种电路板缺件检测方法,其特征在于,应用于如权利要求1-10任一项所述的电路板缺件检测装置;
所述方法包括:
将待测电路板放置在定位托盘上的指定处;
数据处理组件向升降控制组件发送控制信号;
所述升降控制组件根据所述控制信号控制检测组件在初始位置和预设位置之间上下移动;
所述检测组件根据在所述预设位置处与所述待测电路板上元器件的接触状态向所述数据处理组件反馈检测数据;
所述数据处理组件接收所述检测数据,并根据所述检测数据和预设参考数据得到缺件检测结果。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥京东方视讯科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司,未经合肥京东方视讯科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910081787.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种可交互式单板测试系统
- 下一篇:一种测试装置和测试设备