[发明专利]一种样品折射率的测量方法及测量装置在审
| 申请号： | 201910074852.8 | 申请日： | 2019-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN109781591A | 公开（公告）日： | 2019-05-21 |
| 发明（设计）人： | 刘伟;秦福元;申晋;谭陈荣;刘珠明 | 申请（专利权）人： | 淄博澳谱仪器有限公司;遵义澳谱电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 淄博佳和专利代理事务所 37223 | 代理人： | 孙爱华 |
| 地址： | 255035 山东省淄博市张店区万*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 入射光 样品池 落点 样品折射率 测量装置 测量 折射率 动态光散射法 测量纳米 颗粒粒度 粒度检测 纳米颗粒 偏移量 折射角 记录 排空 射出 注满 转动 | ||
1.一种样品折射率的测量方法，其特征在于：包括如下步骤：
步骤1，改变入射光入射样品池(3)时入射光与样品池(3)入射池壁的入射角并记下此时入射角的角度α；
步骤2，将样品池(3)排空，打开光源，光源发出的入射光穿过聚焦透镜(2)后进入样品池(3)，入射光自样品池(3)的入射池壁射入后自另一侧的出射池壁射出，射出后落在光电位置传感器(4)上，并记录下落点a的位置；
步骤3，在样品池(3)内注满样品，再次打开光源，光源射出的入射光在射入以及射出样品池(3)时分别发生折射，自样品池(3)的射出口落在光电位置传感器(4)上，并记录下落点b的位置；
步骤4，根据入射光在光电位置传感器(4)上的两次落点的位置：点a、点b，得到入射光在光电位置传感器(4)上的间距，记为间距L；
步骤5，得到入射光在步骤2及步骤3两次射出样品池(3)时，在样品池(3)出射池壁上射出点的偏移量；
步骤6，计算得到入射光在样品池(3)内的折射角；
步骤7，得到入射光在样品池(3)内样品里的折射率。
2.根据权利要求1所述的样品折射率的测量方法，其特征在于：步骤5中所述的样品池(3)出射池壁上射出点的偏移量的计算公式为：
其中，L表示入射光在光电位置传感器(4)上的间距，α表示入射光在样品池(3)入射池壁上的入射角。
3.根据权利要求1所述的样品折射率的测量方法，其特征在于：步骤6中所述的折射角的表达式为：
其中：L表示入射光在光电位置传感器(4)上的间距，α表示入射光在样品池(3)入射池壁上的入射角，B表示样品池(3)的边长。
4.根据权利要求1所述的样品折射率的测量方法，其特征在于：步骤7中所述折射率的表达式为：
式中：α表示入射光在样品池(3)入射池壁上的入射角，β表示表示入射光在样品池(3)样品下的折射角，n0表示空气的折射率。
5.根据权利要求1所述的样品折射率的测量方法，其特征在于：在进行所述步骤1时，通过转动样品池(3)改变入射光的与样品池(3)入射池壁的入射角。
6.根据权利要求1所述的样品折射率的测量方法，其特征在于：在进行所述步骤1时，通过移动聚焦透镜(2)改变入射光的与样品池(3)入射池壁的入射角。
7.一种实现权利要求1～6所述的样品折射率的测量方法的测量装置，其特征在于：包括光源，在光源的出口处设置有聚焦透镜(2)，样品池(3)设置在聚焦透镜(2)的后方，在样品池(3)的后方设置有光电位置传感器(4)。
8.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于：所述的样品池(3)为边长为B的正方体。
9.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于：所述的光源为激光器(1)。
10.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于：在所述样品池(3)的下部还设置有旋转机构，用于实现样品池(3)以其中心为轴进行转动。
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