[发明专利]一种纳米晶带材破碎加工装置在审
| 申请号: | 201910071721.4 | 申请日: | 2019-01-25 |
| 公开(公告)号: | CN109675663A | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
| 发明(设计)人: | 阳祖芳;曹小玲 | 申请(专利权)人: | 昆山得士成自动化设备有限公司 |
| 主分类号: | B02C4/00 | 分类号: | B02C4/00;B02C4/28;B02C4/30;B02C4/42;B02C23/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 纳米晶 带材 加工装置 破碎 检测装置 贴合装置 检测组件 破碎组件 放卷 带材放卷装置 传送带组件 放料装置 控制效果 破碎结构 牵引组件 上下设置 实时控制 收卷装置 依次设置 安装架 传感器 电动缸 良品率 竖直 自动化 体内 加工 | ||
1.一种纳米晶带材破碎加工装置,其特征在于:包括按照加工顺序依次设置在安装架体内的放卷贴合装置(1)、至少一组破碎组件(2)、检测装置(3)和收卷装置(4);
所述放卷贴合装置(1)包括上下设置的PET带材放卷装置(11)和设置在两者之间的纳米晶带材放料装置(12),还包括贴合装置(13);
所述破碎组件(2)包括上部至少一组的破碎结构和下部的传送带组件(26),所述破碎结构包括固定座(21)、破碎辊(22)和压力调节组件(23),所述压力调节组件(23)包括分居所述固定座(21)两侧电动缸(231)和滑轨(232),所述滑轨(232)的上下侧分别设有第一滑块(233)和第二滑块(234),所述第一滑块(233)与所述电动缸(231)通过连接件(235)连接,所述第二滑块(234)下侧连接有所述破碎辊(22),上侧对称的设有压力传感器(236),所述压力传感器(233)与所述导杆(237)连接,且所述导杆(237)与所述第一滑块(233)之间存在竖向自由度,所述第一滑块(233)与所述压力传感器(236)之间设有弹性件(24);
所述传送带组件(26)包括位于所述破碎结构下方的传送带平台(261),所述传送带平台(261)上设有与所述破碎辊(22)等量共同作用传送辊(262),所述传送辊(262)连接有电机,所述传送平台(261)下侧为皮带张力调节组件(27),传送带(28)穿过所述传送辊(262)并呈V型穿过所述皮带张力调节组件(27)后形成闭环;
所述检测装置(3)包括检测组件(31)和设置在所述检测组件(31)后端的牵引组件(32),所述检测组件(31)中的检测平台(311)设置在调节滑轨(312)上,所述检测平台(311)在材料行进方向上依次设有厚度检测装置(313)、电感检测装置(314)和纹路检测装置(315),所述牵引组件(32)的后端架体(321)上设有与电机(322)连接的主动辊(323),所述后端架体(321)上还通过丝杆(324)在所述主动辊(323)上部可调的设有从动压辊(325),所述后端架体(321)前端还设有过渡平台(33)与所述检测组件(31)连接。
2.根据权利要求1所述的一种纳米晶带材破碎加工装置,其特征在于:所述贴合装置(13)包括上下设置在贴合架体(131)上的从动贴合辊(132)和主动贴合辊(133),所述主动贴合辊(133)与电机连接,所述从动贴合辊(132)通过丝杆调节件(134)在所述贴合架体(131)上具备竖向自由度,所述贴合装置(13)后端还设有贴合过渡平台(135)。
3.根据权利要求1所述的一种纳米晶带材破碎加工装置,其特征在于:所述弹性件(24)为套设在所述导杆(237)上的弹簧,所述第二滑块(234)下侧通过轴承座(25)与所述破碎辊(22)连接,所述压碎辊(22)上设有压碎纹路。
4.根据权利要求1所述的一种纳米晶带材破碎加工装置,其特征在于:所述皮带张力调节组件(27)包括两端的第一传递辊(271)、水平设置的多个第二传递辊(272)和设置在所述第二传递辊(272)之间的调节平台(273),所述调节平台(273)上的气缸(274)的伸缩杆与底部第三传递辊(275)连接,所述调节平台(273)与所述第三传递辊(275)通过滑杆(726)导向连接,且设有第二弹性件(277)。
5.根据权利要求4所述的一种纳米晶带材破碎加工装置,其特征在于:所述第二弹性件(77)为套设在所述滑杆(76)的弹簧。
6.根据权利要求1所述的一种纳米晶带材破碎加工装置,其特征在于:电感检测组件(314)包括设置在所述检测平台(311)上的支架(3111),所述支架(3111)上设有气缸(3112),所述气缸(3112)的伸缩杆连接有压板(3113),所述检测平台(311)的基座板上在所述压板(3113)正下侧设有电感检测线圈。
7.根据权利要求6所述的一种纳米晶带材检测装置,其特征在于:所述厚度检测装置(313)为厚度检测仪。
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