[发明专利]电子元器件传送装置及电子元器件检查装置

说明书

本申请提供可以准确地向电子元器件载置部照射从光照射部照射的光的电子元器件传送装置及电子元器件检查装置。一种电子元器件传送装置，向载置电子元器件的电子元器件载置部传送电子元器件，该电子元器件传送装置具备：传送电子元器件的传送部；向电子元器件载置部照射光的光照射部；以及具有引导件的铅直方向移动机构部，该引导件支承光照射部并沿铅直方向引导光照射部。

技术领域

本发明涉及电子元器件传送装置及电子元器件检查装置。

背景技术

在现有技术中，例如已知有进行诸如IC器件等电子元器件的电气检查的检查装置(例如，参照专利文献1)。在该专利文献1记载的检查装置中，构成为在对IC器件进行检查时，将IC器件传送至检查用插座，并载置于检查用插座来进行其检查。此外，在专利文献1记载的检查装置中，在进行对于IC器件的检查之前，判断在检查用插座上是否残留有IC器件，即判断有无IC器件。作为该判断的必要性，是因为例如假设在检查用插座上残留有IC器件时，存在之后要检查的IC器件与该残留器件重叠，无法获得准确的检查结果的担忧。此外，在专利文献1记载的检查装置中，在对检查用插座照射狭缝光的状态下，获得拍摄定时不同(IC器件传送前后)的两张图像，检测这两张图像的不同(图像差)，基于该检测结果来判断有无IC器件。

专利文献1：日本专利特开2014-196908号公报

但是，在专利文献1记载的检查装置中，需要调整照射狭缝光的激光光源的位置(特别是铅直方向的位置)、朝向，但在上述检查装置中，不能调整激光光源的位置等。

发明内容

本发明是为了解决上述技术问题而做出的，可作为以下方面来实现。

本发明的电子元器件传送装置其特征在于，具备：传送部，传送电子元器件；能够配置载置所述电子元器件的电子元器件载置部的区域；光照射部，能够向所述电子元器件载置部照射光；以及铅直方向移动机构部，将所述光照射部支承为能够移动，使得所述光照射部在铅直方向上的位置发生变化。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，所述铅直方向移动机构部具有沿铅直方向引导所述光照射部的导轨。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，所述铅直方向移动机构部具有使所述光照射部的移动速度减速的减速器。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，所述铅直方向移动机构部具有移动调整部，该移动调整部在所述光照射部停止了移动时，调整所述光照射部在移动目的地的位置。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，所述光照射部具有照射激光的多个激光光源。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，所述光照射部为所述多个激光光源单元化而成的光源单元。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，所述铅直方向移动机构部构成为以使所述各激光光源能够独立移动的方式支承所述各激光光源。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，所述铅直方向移动机构部构成为以使所述各激光光源能够一起向同方向移动的方式支承所述各激光光源。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，所述各激光光源沿铅直方向配置，以越是位于上侧的所述激光光源、所述激光光源相对于铅直方向的角度越小的方式来使用所述各激光光源。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，具备以使所述光照射部能够转动的方式支承所述光照射部的转动机构部。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，所述转动机构部具有使所述光照射部的角速度减速的减速器。

优选地，在本发明的电子元器件传送装置中，所述转动机构部具有转动调整部，该转动调整部在所述光照射部停止了转动时，调整所述光照射部在转动目的地的位置。