[发明专利]一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置

权利要求书

1.一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置，包括天平测量元件、前端位移元件和传动装置，所述传动装置包括中心轴，中心轴通过主轴、摇臂、偏心轴等部件与电机连接，

其特征在于：所述天平测量元件与前端位移元件为一体化结构轴向套在传动装置的中心轴上，一体化结构的前端位移元件的末端与传动装置的支杆固定连接，一体化结构的天平测量元件的末端与中心轴固定连接，

所述摇臂上连接有后端位移元件，后端位移元件通过铰链滑块与传动装置的综合接头连接用于获取滚转角位移；

在电机的带动下，传动装置中的中心轴、偏心轴、摇臂发生角位移，从而使得前段位移元件和后端位移元件发生形变，根据惠斯顿电桥原理，在两个位移元件上分别粘贴应变计组成惠斯顿电桥，将角位移大小转化为电信号，从而进行位前端和后端移元件的校准。

2.根据权利要求1所述的一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置，其特征在于所述一体化结构的前端位移元件与支杆之间采用双楔子结构构成的铰链连接。

3.根据权利要求2所述的一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置，其特征在于所述双楔子结构为：在支杆上沿着径向设置有对称的两组楔孔，与支杆上楔孔位置对应的前端位移元件上设置有相同大小的两组楔槽，两个楔子各自穿过支杆和前端位移天平上的一组楔孔和楔槽。

4.根据权利要求3所述的一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置，其特征在于对应位置上的楔孔、楔槽和楔子采用配加工结构，三者连接后相互之间无间隙。

5.根据权利要求3所述的一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置，其特征在于支杆上的两组楔孔和前端位移元件上的两组楔槽，以位移元件为中心对称分布。

6.根据权利要求1所述的一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置，其特征在于所述一体化结构的前端位移元件上沿着轴向在两端上分别设置有一组铰链槽。

7.根据权利要求6所述的一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置，其特征在于所述一组铰链槽是在沿着一体化结构的轴向上设置有多个各自在同一圆周面上的镂空结构。

8.根据权利要求7所述的一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置，其特征在于所述镂空结构不是完整的闭环，所述镂空结构在同一圆周方向分为若干段。

9.根据权利要求1所述的一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置，其特征在于所述后端位移元件采用单个矩形弹性梁作为测量元件的单分量天平，后端位移元件通过螺钉分别与摇臂和铰链滑块连接。

10.根据权利要求9所述的一种可复校核的双位移滚转动导数试验装置，其特征在于所述铰链滑块包括与摇臂连接的滑块、用于与综合接头定位槽定位的定位块，定位块与滑块之间通过一个铰链结构连接，所述铰链结构为柔性铰链。