[发明专利]模拟数字转换器装置与时脉偏斜校正方法

说明书

一种模拟数字转换器装置与时脉偏斜校正方法。模拟数字转换器装置包含多个模拟数字转换器电路系统、校正电路系统与偏斜调整电路系统。多个模拟数字转换器电路系统根据多个时脉信号转换输入信号以产生多个第一量化输出。校正电路系统根据这些第一量化输出执行校正运算，以产生多个第二量化输出。偏斜调整电路系统决定这些第二量化输出于一预定期间内分别对应的多个最大值信号，并平均这些最大值信号以产生参考信号，且将参考信号分别与这些最大值信号比较以产生多个调整信号，以降低这些模拟数字转换器电路系统中的时脉偏斜。本案可在不设置额外模拟数字转换器电路下，通过简单运算取得时脉偏斜的信息以进行校正。如此，可降低整体功耗与校正周期。

技术领域

本案是有关于一种模拟数字转换器装置，且特别是有关于时间交错式模拟数字转换器与其时脉偏斜校正方法。

背景技术

模拟数字转换器(analog-to-digital converter,ADC)常见于各种电子装置中，以转换模拟信号至数字信号以进行信号处理。在实际应用中，ADC会因为增益误差、电压误差或时序误差影响其本身的解析度或线性度。其中，针对时序误差，现有的技术需设置复杂的电路(例如额外的参考ADC电路、辅助用的ADC电路)或利用晶片外(off-chip)的校正来做校正，使得ADC的功耗或是校正所需周期越来越高。

发明内容

为了解决上述问题，本案的一些态样是提供一种模拟数字转换器装置，其包含多个模拟数字转换器电路系统、一校正电路系统以及一偏斜调整电路系统。多个模拟数字转换器电路系统用以根据交错的多个时脉信号转换一输入信号以产生多个第一量化输出。校正电路系统用以根据所述多个第一量化输出执行至少一校正运算，以产生多个第二量化输出。偏斜调整电路系统用以决定所述多个第二量化输出于一预定期间内分别对应的多个最大值信号，并平均所述多个最大值信号以产生一参考信号，且将该参考信号分别与所述多个最大值信号比较以产生多个调整信号，以降低所述多个模拟数字转换器电路系统中的一时脉偏斜。

本案的一些态样是提供一种时脉偏斜校正方法，其包含下列操作：根据自多个模拟数字转换器电路系统所输出的多个第一量化输出执行至少一校正运算，以产生多个第二量化输出；决定所述多个第二量化输出于一预定期间内分别对应的多个最大值信号；平均所述多个最大值信号以产生一参考信号；以及将该参考信号分别与所述多个最大值信号比较以产生多个调整信号，以降低所述多个模拟数字转换器电路系统中的一时脉偏斜。

于一些实施例中，该偏斜调整电路系统用以分别对多个差值信号执行多个绝对值运算以产生多个绝对值信号，并用以分别对所述多个绝对值信号执行多个最大值运算以产生所述多个最大值信号，其中所述多个差值信号为根据所述多个第二量化输出产生。

于一些实施例中，该偏斜调整电路系统包含一延迟电路、多个运算电路、多个绝对值电路、多个最大值电路、一平均电路以及多个比较器电路。延迟电路用以延迟所述多个第二量化输出中的一第一者，以产生一延迟量化输出。多个运算电路用以依序接收该延迟量化输出与所述多个第二量化输出中的两个信号，以分别产生多个差值信号。所述多个绝对值电路每一者用以根据所述多个差值信号中的一对应差值信号执行一绝对值运算，以产生多个绝对值信号中的一对应者。所述多个绝对值电路每一者用以于接收所述多个绝对值信号中的一对应绝对值信号，并执行一最大值运算，以输出该对应绝对值信号于该预定期间内的一最大值为所述多个最大值信号中的一对应者。平均电路用以执行一平均运算平均所述多个最大值信号，以产生该参考信号。多个比较器电路分别比较所述多个最大值信号与该参考信号，以产生多个侦测信号。

于一些实施例中，其中该偏斜调整电路系统输出所述多个侦测信号为所述多个调整信号。

于一些实施例中，所述多个差值信号中每一者于时域上满足下式：

sin(2πf(k+1)T)-sin(2πfkT)＝2cos(2πfkT+πfT)·(πfT+πfΔt)