[发明专利]用于激光二极管的自动焦距测量装置及其测量方法在审

专利信息
申请号: 201910059715.7 申请日: 2019-01-22
公开(公告)号: CN109580189A 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 朱振国;林中晞;林琦;钟杏丽;苏辉 申请(专利权)人: 中国科学院福建物质结构研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 代理人: 胡璇
地址: 350002 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 激光二极管 测量 测量模块 测量装置 空间偏向 运动耦合 自动焦距 耦合部件 焦距 光功率 上位机 位置坐标获得 部件移动 控制耦合 移动耦合 装置实现 准确测量 最大耦合 耦合 电连接 内耦合 申请
【权利要求书】:

1.一种用于激光二极管的自动焦距测量装置,其特征在于,包括:

测量模块,用于测量待测激光二极管耦合进入耦合部件中的光功率;

运动耦合机构,用于移动所述耦合部件;

上位机,用于控制所述耦合部件移动以测量任一Z轴坐标下,X-Y平面内所述耦合部件与所述待测激光二极管的最大耦合光功率值,根据测量结果及所述耦合部件的位置坐标获得所述待测激光二极管的焦距和/或空间偏向角;

所述上位机分别与所述测量模块和所述运动耦合机构电连接。

2.根据权利要求1所述的用于激光二极管的自动焦距测量装置,其特征在于,所述耦合部件包括耦合光纤或光电探测器;

优选地,所述测量模块为多功能数字源表,用于向所述待测激光二极管供电。

3.根据权利要求1所述的用于激光二极管的自动焦距测量装置,其特征在于,所述用于激光二极管的自动焦距测量装置包括选通电路模块,用于根据所述上位机控制指令,控制各所述待测激光二极管的电路导通或关闭,所述选通电路模块与所述上位机控制连接,并与所述待测激光二极管电路连接。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的用于激光二极管的自动焦距测量装置,其特征在于,所述运动耦合机构包括:第一移动机构、限位机构和耦合机构,

所述耦合机构安装于所述第一移动机构上,并随所述第一移动机构移动;

所述待测激光二极管固定安装于所述限位机构中;

所述耦合部件安装于所述耦合机构上;

所述耦合机构带动所述耦合部件移动,并与所述待测激光二极管耦合。

5.根据权利要求4所述的用于激光二极管的自动焦距测量装置,其特征在于,所述限位机构包括:底座和上定位板,所述底座上开设至少一个LD插座安装孔,所述待测激光二极管安装于所述LD插座安装孔内,所述上定位板上正对所述LD插座安装孔开设至少一个LD定位孔;

所述待测激光二极管被所述底座和所述上定位板夹紧固定后,所述待测激光二极管的测量端至少容纳于所述LD定位孔中。

6.根据权利要求5所述的用于激光二极管的自动焦距测量装置,其特征在于,所述限位机构包括LD插座和插座回弹构件,所述插座回弹构件设于所述LD插座外,并压缩容纳于所述LD插座与所述底座之间;

所述待测激光二极管安装于所述LD插座中;

优选地,所述底座的顶面两端分设定位柱,所述上定位板上正对所述定位柱开设定位孔,所述定位柱插入所述定位孔内限制所述上定位板沿其水平方向的运动。

7.根据权利要求5所述的用于激光二极管的自动焦距测量装置,其特征在于,所述限位机构包括:底座支架和高度限制机构,所述底座支架分设于所述底座的两相对端;

所述高度限制机构分别安装于所述底座的两相对端上,所述高度限制机构夹持并控制所述上定位板沿所述上定位板的纵向移动。

8.根据权利要求7所述的用于激光二极管的自动焦距测量装置,其特征在于,所述高度限制机构为空压转角缸和/或卡扣;

优选地,所述卡扣包括:卡扣头、卡扣座、卡扣轴和卡扣弹簧,所述卡扣轴沿所述卡扣座横向贯穿所述卡扣座和所述卡扣头;

所述卡扣头安装于所述卡扣座内,并绕所述卡扣轴转动;

所述卡扣弹簧压缩并容纳于所述卡扣头与所述卡扣座之间,所述卡扣弹簧推动所述卡扣头绕所述卡扣轴转动;

所述卡扣座内侧设有限制所述卡扣头转动范围的结构;

所述卡扣头的一侧抵接于所述上定位板一端。

9.根据权利要求4所述的用于激光二极管的自动焦距测量装置,其特征在于,所述耦合机构包括:支架,所述支架朝向所述限位机构安装于所述第一移动机构上,所述支架上开设耦合部件安装孔。

10.一种用于如权利要求1~9中任一项所述装置的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

a)固定并导通待测激光二极管,移动耦合部件至所述待测激光二极管出光侧;

b)移动所述耦合部件,测量任一Z轴坐标下,X-Y平面内所述耦合部件与所述待测激光二极管的最大耦合光功率值及所述耦合部件的位置坐标;

c)更新Z轴坐标重复步骤b)直至达到测试终止条件,得到所述待测激光二极管的焦距和/或空间偏向角。

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