[发明专利]一种粉笔字实现方法、装置、电子设备与存储介质有效
申请号: | 201910058722.5 | 申请日: | 2019-01-22 |
公开(公告)号: | CN111352562B | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 魏治平 | 申请(专利权)人: | 鸿合科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/04883 | 分类号: | G06F3/04883;G06F3/04847;G06F3/0481 |
代理公司: | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人: | 王刚 |
地址: | 100086 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 粉笔 实现 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种粉笔字实现方法,其特征在于,包括:
接收书写触控指令,根据所述书写触控指令得到笔迹架构点信息,所述笔迹架构点信息包括架构点坐标和架构点半径;所述接收书写触控指令,根据所述书写触控指令得到笔迹架构点信息,包括:
根据所述书写触控指令,得到笔迹触控点信息,所述笔迹触控点信息包括触控点坐标与触控点触控时间;
根据所述触控点坐标与所述触控点触控时间,求得触控点移动速度,所述笔迹触控点信息还包括所述触控点移动速度;
根据所述触控点移动速度,求得触控点压力值,所述笔迹触控点信息还包括所述触控点压力值;
对所述笔迹触控点信息进行滤波处理,得到触控点滤波信息,所述触控点滤波信息包括触控点滤波坐标与触控点滤波压力值;
根据所述触控点滤波压力值,求得触控点半径;
根据所述触控点滤波坐标与所述触控点半径,确定所述笔迹架构点信息,所述架构点坐标即为所述触控点滤波坐标,所述架构点半径即为所述触控点半径;
根据所述笔迹架构点信息,确定笔迹连接点信息,所述笔迹连接点信息包括连接点坐标和连接点半径;所述根据所述笔迹架构点信息,确定笔迹连接点信息,包括:
根据两相邻所述笔迹架构点间距计算两相邻所述笔迹架构点间的所述笔迹连接点的连接系数lf:
其中,所述L,表示所述相邻所述笔迹架构点间距,d表示判定系数,所述判定系数的初始值为0;
根据所述连接系数lf计算所述连接点半径CPn(r):
CPn(r)=OPn-1(r)+lf(OPn(r)-OPn-1(r))
其中,OPn(r)表示当前所述笔迹架构点的所述架构点半径,OPn-1(r)表示前一所述笔迹架构点的所述架构点半径,lf表示当前所述笔迹连接点的所述连接系数;
根据所述连接系数lf计算所述连接点横坐标CPn(x)
CPn(x)=OPn-1(x)+lf(OPn(x)-OPn-1(x))
其中,OPn(x)表示当前所述笔迹架构点的横坐标,OPn-1(x)表示前一所述笔迹架构点的横坐标,lf表示当前所述笔迹连接点的所述连接系数;
根据所述连接系数lf计算所述连接点纵坐标CPn(y):
CPn(y)=OPn-1(y)+lf(On(y)-OPn-1(y))
其中,OPn(y)表示当前所述笔迹架构点的纵坐标,OPn-1(y)表示前一所述笔迹架构点的纵坐标,lf表示当前所述笔迹连接点的所述连接系数;
对所述连接点半径CPn(r)进行判定,并根据判定结果更新所述判定系数,重新计算得到新的所述连接系数lf并根据新的所述连接系数lf计算得到新的所述笔迹连接点信息,直至所述判定系数d大于所述相邻所述笔迹架构点间距L’:
由此确定两相邻所述笔迹架构点之间的若干个所述笔迹连接点,得到若干所述笔迹连接点的所述笔迹连接点信息;
根据所述笔迹架构点信息与所述笔迹连接点信息,结合预先设定的粉笔笔迹单元图,绘制粉笔字笔迹。
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