[发明专利]基于逆高斯分布低值绝缘子红外检测温度阈值的判定方法

权利要求书

1.一种基于逆高斯分布低值绝缘子红外检测温度阈值的判定方法，其特征在于，包括以下步骤：

选取低值绝缘子样本：低值绝缘子样本为绝缘子串中经红外检测出来的低值绝缘子与经绝缘电阻法检测低值绝缘子相吻合的多个低值绝缘子，所述绝缘子串包括A相绝缘子串、B相绝缘子串和C相绝缘子串；

低值温差处理，获取低值绝缘子样本的低值温差样本：根据计算公式计算低值绝缘子与同一相绝缘子串中左右相邻两片正常绝缘子温度平均值的差值，n为低值绝缘子在绝缘子串中的位置，T_n为绝缘子串中的n位置处低值绝缘子铁帽的温度，T_n-1和T_n+1分别为同一相绝缘子串中左右相邻两片正常绝缘子铁帽的温度；

对低值温差样本进行分布拟合，包括：

根据逆高斯分布，进行极大似然估计，获取低值绝缘子的平均温差分布，逆高斯分布的函数为：

其中，将ΔT_n设定为x_i，低值温差样本具体为(x₁,x₂,…,x_n)，即为(ΔT₁,ΔT₂,…,ΔT_n)；

进行低值绝缘子红外检测漏检率和误检率分析，包括：

于绝缘子串中对低值绝缘子对应位置的正常绝缘子进行温差取值：若A相绝缘子串、B相绝缘子串或C相绝缘子串中任意一相的第n片为低值绝缘子，则选取其余两相绝缘子串第n片正常绝缘子温差值的平均值作为正常温差样本，若A相绝缘子串、B相绝缘子串和C相绝缘子串中任意两相的第n片为低值绝缘子，则选取其余一相绝缘子串第n片正常绝缘子的温差值作为正常温差样本；

于同一图表中绘制生成温度阈值-漏检率曲线和温度阈值-误检率曲线，所述漏检率为低于温差阈值的低值温差样本的数量与低值温差样本总量之比，所述误检率为高于温差阈值的正常温差样本数量与正常温差样本总量之比；

低值绝缘子红外检测温差阈值的选取：温度阈值-漏检率曲线与温度阈值-误检率曲线之间的交点对应的温差阈值即为低值绝缘子红外检测温差阈值。

2.根据权利要求1所述的基于逆高斯分布低值绝缘子红外检测温度阈值的判定方法，其特征在于：于对低值温差样本进行分布拟合步骤中，得到逆高斯分布参数μ和λ的具体数值。

3.根据权利要求1所述的基于逆高斯分布低值绝缘子红外检测温度阈值的判定方法，其特征在于：于对低值温差样本进行分布拟合步骤中还包括步骤，采用Kolmogorov-Smirnov检验低值温差样本是否服从逆高斯分布。

4.根据权利要求1所述的基于逆高斯分布低值绝缘子红外检测温度阈值的判定方法，其特征在于：于对低值温差样本进行分布拟合步骤中还包括步骤：

根据伽玛分布对低值温差样本进行拟合；

进行拟合优度检测，采用Kolmogorov-Smirnov检验、对数似然函数值及AIC准则对逆高斯分布及伽玛分布的拟合优度进行检验，判定可知逆高斯分布相比于伽玛分布具有更好的拟合优度。

5.根据权利要求1所述的基于逆高斯分布低值绝缘子红外检测温度阈值的判定方法，其特征在于：于对低值温差样本进行分布拟合步骤中获取得到拟合累积概率分布图，并根据所述拟合累积概率分布图可得到不同平均温差对应的累积概率值。

6.根据权利要求1所述的基于逆高斯分布低值绝缘子红外检测温度阈值的判定方法，其特征在于：于低值绝缘子红外检测温差阈值的选取步骤中，当温度阈值-漏检率曲线与温度阈值-误检率曲线之间的交点所对应的累积概率大于90％时，该交点对应的温差阈值即为低值绝缘子红外检测温差阈值。

7.根据权利要求1所述的基于逆高斯分布低值绝缘子红外检测温度阈值的判定方法，其特征在于：所述低值绝缘子红外检测温差阈值为0.3K。

8.根据权利要求7所述的基于逆高斯分布低值绝缘子红外检测温度阈值的判定方法，其特征在于：根据逆高斯分布可知，当温差阈值为0.3K时对应的累积概率值为91.75％。