[发明专利]一种TVS器件芯片及其制造方法在审
| 申请号: | 201910053040.5 | 申请日: | 2019-01-21 |
| 公开(公告)号: | CN109698171A | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
| 发明(设计)人: | 胡光亮;黄志诚 | 申请(专利权)人: | 上海雷卯电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L25/07;H01L21/56;H01L29/861 |
| 代理公司: | 上海诺衣知识产权代理事务所(普通合伙) 31298 | 代理人: | 衣然 |
| 地址: | 200540 上海市金*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 引脚 芯片层 封装外壳 器件芯片 接线 电路 芯片 高分子聚合物 器件技术领域 填充物 导电通路 故障排除 纳米晶体 器件恢复 钳位保护 瞬态电压 芯片设计 短路 复位 成链 集温 两路 内腔 断开 断电 复原 还原 火灾 制造 保证 | ||
1.一种TVS器件芯片,包括封装外壳(1)、TVS芯片层(2)、过流芯片层(3)、第一引脚(4)与第二引脚(5),其特征在于:所述封装外壳(1)的内腔设置TVS芯片层(2)与过流芯片层(3),所述TVS芯片层(2)的底部通过接线连接第一引脚(4)的一端,且第一引脚(4)的另一端延伸至封装外壳(1)的外侧作为TVS器件的输入端,所述过流芯片层(3)的顶部通过接线连接第二引脚(5)的一端,且第二引脚(5)的另一端延伸至封装外壳(1)的外侧作为TVS器件的输出端。
2.根据权利要求1所述的一种TVS器件芯片,其特征在于:所述TVS芯片层(2)与过流芯片层(3)的内部分别设置TVS硅芯片,且TVS芯片层(2)、过流芯片层(3)、第一引脚(4)和第二引脚(5)采用并联连接方式。
3.根据权利要求1所述的一种TVS器件芯片,其特征在于:所述第一引脚(4)与第二引脚(5)均采用铜合金材料制成。
4.根据权利要求3所述的一种TVS器件芯片,其特征在于:所述第一引脚(4)与第二引脚(5)有铜合金制成的一端设置为直线形、波浪形或螺旋形中的一种。
5.根据权利要求1所述的一种TVS器件芯片,其特征在于:所述过流芯片层(3)的内腔设置复位过流填充物,且复位过流填充物为高分子聚合物与纳米导电晶粒组成。
6.根据权利要求1所述的一种TVS器件芯片,其特征在于:所述TVS芯片层(2)中的硅芯片额定电流小于过流芯片层(3)中的硅芯片额定电流。
7.根据权利要求1-6所述的TVS器件芯片的制造方法,其特征在于:
S1:对硅片进行好坏的测试,并将检测出硅片中毁坏的芯片进行标记;
S2:将硅片底面贴于蓝膜上,划成一个个小块,并将损坏的芯片挑出;
S3:挑取芯片中好的芯片并在芯片的顶面贴上蓝膜,将芯片上下颠倒,去掉之前底面上的蓝膜;
S4:选用两种不同额定电流的硅芯片,通过机器将两种硅芯片焊接在引线框架的底座上,形成TVS芯片层(2)与过流芯片层(3);
S5:将第一引脚(4)的一端焊接在TVS芯片层(2)通过光刻形成的限位孔上,将第二引脚(5)的一端焊接在过流芯片层(3)通过光刻形成的限位孔上;
S6:在过流芯片层(3)的内腔与硅芯片的夹层中填充物料;
S7:通过贴片封装或插件封装将带有TVS芯片层(2)、过流芯片层(3)、第一引脚(4)和第二引脚(5)的底座安装在封装外壳(1)中;
S8:最终对TVS器件进行测试,并将好的产品编袋。
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