[发明专利]一种地价测算方法及系统

权利要求书

1.一种地价测算方法，其特征在于，其包括：

分别计算每块图斑的单项影响因素的功能分；

根据每块图斑的单项影响因素的功能分，计算每块图斑的功能分总分；

获取待测宗地所覆盖的图斑数量，根据所述待测宗地所覆盖的图斑数量，计算所述待测宗地的第一用途功能分；

选取若干块标准宗地，获取所述标准宗地的价格、所述标准宗地的第一各项修正系数，计算所述待测宗地的第二各项修正系数，根据所述标准宗地的价格、所述标准宗地的第一各项修正系数、所述待测宗地的第二各项修正系数测算所述待测宗地均价。

2.根据权利要求1所述的一种地价测算方法，其特征在于，所述影响因素包括点状因素、线状因素、面状因素和特定因素，每项所述影响因素包括至少一种影响因子。

3.根据权利要求2所述的一种地价测算方法，其特征在于，所述分别计算每块图斑的单项影响因素的功能分具体包括：

S11，选取法定图则中的任一块图斑，并获取所选图斑的中心点坐标；

S12，选取一项影响因素，并获取所选项影响因素中的所有影响因子；

S13，遍历所选项影响因素的所有影响因子，计算所选图斑的中心点到每个影响因子的距离，并根据每个影响因子的半径及功能分，计算所选图斑对应每个影响因子的功能分；

S14，选取所选图斑所有功能分的最高值，作为所选图斑对应所选项影响因素的功能分；

S15，遍历所有图斑和所有影响因素，重复步骤S11至步骤S14，直至计算出法定图则中所有图斑相对应的所有影响因素的功能分。

4.根据权利要求3所述的一种地价测算方法，其特征在于，所述根据每块图斑的单项影响因素的功能分，计算每块图斑的功能分总分具体包括：

S21，依次获取每块图斑的每项影响因素的功能分值m(x)，查询每项影响因素对应的权重w(y)，计算每块图斑的各项影响因素的功能分：

fm＝m(x)w(y)；

S22，累加单块图斑的各项影响因素的功能分，得到单块图斑的功能分总分，依次计算得到每块图斑的功能分总分，根据土地用途，每块图斑的功能分总分分为四类用途功能分Mn。

5.根据权利要求4所述的一种地价测算方法，其特征在于，所述获取待测宗地所覆盖的图斑数量，根据所述待测宗地所覆盖的图斑数量，计算所述待测宗地的功能分具体包括：

获取待测宗地所覆盖的图斑数量，将所述待测宗地所覆盖的图斑数量与数值1进行比较；

若所述待测宗地所覆盖的图斑数量小于1，则查找距离所述待测宗地最近的一块图斑，将最近图斑的功能分作为所述待测宗地的功能分；

若所述待测宗地所覆盖的图斑数量等于1，则将所述待测宗地所覆盖的图斑的功能分作为所述待测宗地的功能分；

若所述待测宗地所覆盖的图斑数量大于1，进一步获取所述待测宗地与每块图斑的相交面积S1、S2、S3……Sn，计算所述待测宗地与所覆盖每块图斑的相交总面积：

S_总＝S1+S2+S3+……+Sn，

根据待测宗地的用途，计算所述待测宗地的第一用途功能分：

M＝M1*(S1/S)+M2*(S2/S)+M3*(S3/S)+……+Mn*(Sn/S)。