[发明专利]一种Seebeck系数的交流测试装置及方法

权利要求书

1.一种Seebeck系数的交流测试装置，与计算机（002）连接后对样品（001）进行Seebeck系数测试，所述交流测试装置包括样品室和安装在样品室内的样品台（1）、夹头（2）、主加热器（3）、副加热器（4）、主探针（5）、副探针（6）、主测温元件（7）、副测温元件（8）；

其特征在于，所述主加热器（3）、所述主探针（5）、所述主测温元件（7）均安装在所述样品台（1）上，所述副加热器（4）、所述副探针（6）、所述副测温元件（8）均安装在所述夹头（2）上；分别位于样品（001）两端的所述样品台（1）、所述夹头（2）与样品（001）接触并固定夹持样品（001）时所述主探针（5）、所述副探针（6）能直接接触样品（001）；

所述交流测试装置还包括安装在样品室外且分别与计算机（002）连接的温控仪（9）、锁相放大器（10）、交流电源表（11），所述主加热器（3）和所述主测温元件（7）分别与所述温控仪（9）连接，所述副加热器（4）与所述交流电源表（11）连接，所述主探针（5）、所述副探针（6）、所述副测温元件（8）分别与锁相放大器（10）连接；

所述主加热器（3）用于给所述样品台（1）加热，使所述样品台（1）达到所需的测量温度；

所述副加热器（4）用于给所述夹头（2）施加一个交流加热电流，使所述夹头（2）以电流倍频的频率发生温度振荡，从而使样品（001）与夹头（2）接触处发生温度振荡；

所述主探针（5）和所述副探针（6）用于测量样品（001）两端之间的交流电压，以便于得到交流电压的幅值；

所述主测温元件（7）用于测量所述样品台（1）的温度；

所述副测温元件（8）用于测量所述副探针（6）与样品（001）接触处的温度，以便于得到温度振荡的幅值；

所述温控仪（9）用于对所述样品台（1）进行温度控制、温度显示；

所述锁相放大器（10）用于测量所述主探针（5）和所述副探针（6）之间的交流电压以及所述副测温元件（8）上的交流电压；

所述交流电源表（11）用于对所述副加热器（4）提供一个交流加热电流。

2.根据权利要求1所述的一种Seebeck系数的交流测试装置，其特征在于，所述样品（001）为块状样品或片状样品或棒状样品。

3.根据权利要求1所述的一种Seebeck系数的交流测试装置，其特征在于，所述主测温元件（7）和所述副测温元件（8）均为电阻温度计。

4.根据权利要求1所述的一种Seebeck系数的交流测试装置，其特征在于，所述主测温元件（7）和所述副测温元件（8）均为热电偶。

5.根据权利要求1所述的一种Seebeck系数的交流测试装置，其特征在于，所述主探针（5）、所述副探针（6）、所述样品（001）均处于真空环境。

6.根据权利要求1所述的一种Seebeck系数的交流测试装置，其特征在于，所述主探针（5）、所述副探针（6）、所述样品（001）均处于保护气体环境。

7.根据权利要求1所述的一种Seebeck系数的交流测试装置，其特征在于，所述主探针（5）通过固定弹簧A安装在样品台（1）上；样品台（1）和夹头（2）共同夹紧样品（001）时，固定弹簧A向主探针（5）提供一个按压力并使得主探针（5）与样品（001）的表面良好接触；同时，所述副探针（6）通过固定弹簧B安装在夹头（2）上；样品台（1）和夹头（2）共同夹紧样品（001）时，固定弹簧B向副探针（6）提供一个按压力并使得副探针（6）与样品（001）的表面良好接触。