[发明专利]一种电子细胞自检方法

说明书

本发明提供了一种电子细胞自检方法，该方法应用于电路检测技术领域，所述方法包括：基于剩余码确定电子细胞地址产生模块的第一编码；基于Berger码和剩余码确定电子细胞输入输出模块的第二编码；输入所述第一编码和第二编码至第一TRC级联电路得到电子细胞的故障指示信息。本发明提供的电子细胞自检方法能够检测单个故障和单向多位故障，实现胚胎电子细胞的编码自检。

技术领域

本发明属于电路检测技术领域，更具体地说，是涉及一种电子细胞自检方法。

背景技术

随着工艺技术的进步，电子系统可靠性问题受到越来越多的关注。胚胎电路是一种模仿多细胞生物生长和发育机理的数字集成电路，该电路由结构相同的电路模块单元(即胚胎电子细胞)相互连接构成胚胎阵列，当一个或多个细胞发生故障时，电路对胚胎电子细胞进行检测，进而控制冗余细胞替代故障细胞完成相应功能，实现故障自修复。由于胚胎电路自组织、自诊断和自修复的优良性能，其在无人机、航天设备、深潜设备和军用机器人等领域具有良好的应用前景。

细胞自检测是自修复的基础。目前，胚胎电子细胞的检测方法主要有细胞间检测和细胞内检测两种。细胞间检测以双模冗余检测方法为主，这类方法故障覆盖率较高，但硬件资源消耗大，布局布线较为复杂，对于胚胎电路阵列结构有一定要求。细胞内检测主要包括针对细胞功能模块的双模冗余检测，针对细胞存储模块的故障检测，针对细胞间连线的冗余检测和细胞间双模冗余检测。这些检测方法仅针对细胞局部进行检测，检测能力受细胞结构影响，故障覆盖率有限，而且检测单元无法有效自检。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电子细胞自检方法，以解决现有技术中存在的检测单元无法有效自检的技术问题。

针对上述技术问题，本发明实施例提供了一种电子细胞自检方法，所述方法包括：

基于剩余码确定电子细胞地址产生模块的第一编码；

基于Berger码和剩余码确定电子细胞输入输出模块的第二编码；

输入所述第一编码和第二编码至第一TRC级联电路得到电子细胞的故障指示信息。

可选地，所述基于剩余码确定电子细胞地址产生模块的第一编码包括：

基于剩余码生成电子细胞地址产生模块的第一校验信息；

输入所述地址产生模块的地址输出信息至剩余码校验器得到第一校验位；

输入所述第一校验信息和第一校验位至第二TRC级联电路得到第一编码。

可选地，所述输入所述地址产生模块的地址输出信息至剩余码校验器得到第一校验位包括：

输入所述地址产生模块的地址输出信息至剩余码校验器；

所述剩余码校验器计算所述地址输出信息的剩余码得到第一校验位。

可选地，所述基于Berger码和剩余码确定电子细胞输入输出模块的第二编码包括：

基于Berger码和剩余码生成电子细胞输入输出模块的第二校验信息；

输入所述输入输出端的输入信息至编码电路得到第二校验位；

输入所述第二校验信息和第二校验位至第三TRC级联电路得到第二编码。

可选地，所述输入输出端的输入信息包括转接输入信息和功能输入信息，所述输入所述输入输出端的输入信息至编码电路得到第二校验位包括：

输入所述转接输入信息至第一编码电路得到第一输出编码；

输入所述功能输入信息至第二编码电路得到第二输出编码；

根据所述第一输出编码和第二输出编码确定第二校验位。