[发明专利]一种单颗粒气溶胶实时定量分析方法有效
申请号: | 201910043196.5 | 申请日: | 2019-01-17 |
公开(公告)号: | CN109738345B | 公开(公告)日: | 2021-08-20 |
发明(设计)人: | 肖航;蔡秋亮;佟磊;李建荣;林佳梅;易辉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院城市环境研究所;中国科学院大学;中国科学院宁波城市环境观测研究站 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
代理公司: | 浙江中桓联合知识产权代理有限公司 33255 | 代理人: | 贺珠平 |
地址: | 361021 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 颗粒 气溶胶 实时 定量分析 方法 | ||
1.一种单颗粒气溶胶实时定量分析方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
一个前期线性拟合步骤:环境中的颗粒物进入单颗粒气溶胶质谱仪,并在空气动力学透镜的作用下,颗粒物汇聚为单个颗粒束,逐一进入测径区,通过双激光测径系统得到颗粒的粒径大小;部分测径后的颗粒逐一被电离,电离产生的正负离子经双极飞行时间质量分析器检测,得到电离颗粒的质谱图;分析粒径段内单位时间颗粒质谱图中的峰面积总和,经打击率校正后,得到粒径段内校正后的单位时间峰面积总和;将粒径段内校正后的单位时间峰面积总和与实际测定的相应粒径段内单位时间平均质量浓度进行线性拟合,得到线性关系;
一个实时测量步骤:环境中的颗粒物进入单颗粒气溶胶质谱仪,并在空气动力学透镜的作用下,颗粒物汇聚为单个颗粒束,逐一进入测径区,通过双激光测径系统得到颗粒的粒径大小及分布;部分测径后的颗粒逐一被电离,电离产生的正负离子经双极飞行时间质量分析器检测,得到电离颗粒的质谱图;分析粒径段内单位时间颗粒质谱图中的峰面积总和,经打击率校正后,得到粒径段内校正后的单位时间峰面积总和;根据上述线性关系,计算获得相应粒径段内颗粒质量浓度;
所述打击率校正公式如下:
其中,CPA:校正后的单位时间峰面积总和,HRi:i时间平均击打率,PAi:i时间峰面积总和。
2.根据权利要求1所述的一种单颗粒气溶胶实时定量分析方法,其特征在于,所述粒径段为PM2.5和/或PM1.0。
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