[发明专利]一种边界扫描结构与IEEE 1500 Wrapper转换接口

说明书

本发明提出一种边界扫描结构与IEEE 1500 Wrapper转换接口，包括WSC接口控制逻辑模块、交换逻辑模块和串并转换逻辑模块，所述WSC接口控制模块，连接于Wrapper与边界扫描结构之间，用于Wrapper的测试控制；所述交换逻辑模块，连接于Wrapper与边界扫描结构之间，用于边界扫描链路和Wrapper的数据交换；所述串并转换逻辑模块，连接于交换逻辑模块与Wrapper之间，用于交换逻辑模块与Wrapper接口的数据交换。本发明结合了NoC边界扫描测试系统中兼容IEEE 1500 Wrapper两大测试机制的技术优势在NoC系统中的联合应用,实现了边界扫描结构对IEEE 1500 Wrapper的控制机制以及两者之间的数据交换机制，且边界扫描结构可串行测试、并行测试两种工作模式下的Wrapper进行数据交换。

技术领域

本发明涉及一种转换接口，具体涉及一种边界扫描结构与IEEE 1500 Wrapper转换接口。

背景技术

NoC(片上网络)是借鉴计算机网络技术设计的片上网络芯片，路由节点组成的通讯架构实现数据的路由和分组交换，而资源节点通过与路由节点的一对一通信实现各种不同功能的资源节点在通讯架构中的交互通信，NoC系统由此实现各项复杂功能。

分布式的网络体系结构和集成电路复用技术使得NoC在面对功能需求增多时，通过增大NoC系统规模即可集成更多的资源节点，但伴随着系统规模的增大，如何应对可能出现的故障导致的测试需要成为NoC进一步发展亟待解决的问题。同时，随着集成电路设计和制造技术的不断进步，NoC的片上集成度越来越提高，这就对其测试提出了更高程度的要求，需要采用合理的测试策略及测试体系结构来对NoC进行测试以节省测试开销，因此，研究NoC的测试问题具有非常重要的意义。

将边界扫描技术引入到NoC领域，对路由节点、资源节点设计嵌入边界扫描链路，可为NoC系统构建基于边界扫描的测试方案。NoC系统的显著特点是规模巨大的网络结构通过数量庞大的互连线实现数据的路由通信，因此，将边界扫描测试技术应用到NoC系统中，可充分发挥其在互连线测试方面的技术优势。

但完全基于边界扫描链路和TAP(测试访问端口)接口而不考虑系统规模的边界扫描架构不足以有效地访问复杂系统中的部件。伴随着NoC规模的增大，内部集成的资源节点数量增多，实现特定功能的资源节点需预先被设计出来并通过设计验证，由此设计既定功能的资源节点符合IP(Intellectual Property)核的设计思想，NoC的开发正是通过选用已得到验证的IP核构建资源节点，简化了设计流程，避免了诸多的底层电路的设计，但通过设计验证的资源节点IP核并不能保证在NoC系统中集成后能够通过测试，尤其是种类繁多的资源节点往往需要大量的测试矢量，单纯基于边界扫描链路进行测试将导致测试时间过长。

为解决集成电路中内嵌IP核的测试问题，IEEE标准化委员会于2005年正式推出了IEEE Std 1500测试标准。标准中定义的测试Wrapper硬件结构提供了标准化可扩展的测试机制，在需要大数据量的资源节点测试方面更具有技术优势，且Wrapper测试接口信号的控制相比边界扫描JTAG接口信号具有更大的灵活性和可塑性。但如何在NoC系统中同时兼容边界扫描测试结构和IEEE 1500 Wrapper，并实现两者之间的数据交换机制，是实现两大测试机制的技术优势在NoC系统中联合应用的技术难题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种边界扫描结构与IEEE1500Wrapper转换接口。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种边界扫描结构与IEEE 1500Wrapper转换接口，包括WSC接口控制逻辑模块、交换逻辑模块和串并转换逻辑模块，

所述WSC接口控制模块，连接于Wrapper与边界扫描结构之间，用于Wrapper的测试控制；