[发明专利]一种画面参数计算方法、装置及存储介质

说明书

本发明实施例提供了一种画面参数计算方法、装置及存储介质，画面参数计算方法包括：获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值；根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P；根据所述品质系数P，确定细纹Fine Pitch的等级大小。这样可以对Fine Pitch问题进行定量分析，判断结果准确，且效率高，可以适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种画面参数计算方法、装置及存储介质。

背景技术

近年来，人们对显示面板的要求越来越高，液晶显示产品也逐渐向大尺寸、高分辨率的方向发展。8K产品应运而生，以其7680画面参数计算装置4320的超高分辨率，在市场上独占鳌头。由于8K产品负载较大，像素点较小，若选择常用的帧反转、列反转方式，画质效果会受到影响，而点反转方式画质较好，但功耗过大，也不能满足需求。因此，可选择使用Z反转方式。Z反转方式的显示装置在某些特定的Pattern(模式)下会有Fine Pitch(细纹)的问题。

目前，现有Fine Pitch的画质评价方法基本还停留在人眼判定上，该Fine Pitch的画质评价方法具有强烈的主观性，判定结果不准确，且效率较低，已经不能适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种画面参数计算方法、装置及存储介质，以解决传统的判定方法的判定结果不准确，不能适应8K大尺寸显示面板产品的发展需求。

依据本发明实施例的一个方面，提供了一种画面参数计算方法，包括：

获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值；

根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P；

根据所述品质系数P，确定细纹Fine Pitch的等级大小。

可选地，所述获取显示面板上的一个或多个待检测区域在相同发光模式或不同发光模式下的亮度值，包括：

获取所述显示面板上的第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值；其中，当所述显示面板处于所述第一发光模式时，所述显示面板的所有像素子单元达到充电饱合状态；当所述显示面板处于所述第二发光模式时，所述显示面板的一种颜色的像素子单元不点亮；

所述根据所获取的亮度值，确定显示画面的品质系数P，包括：

根据所述第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，确定显示画面的品质系数P。

可选地，所述获取所述显示面板上的第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，包括：

获取所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过第一滤光片后的第一亮度值Y1，以及所述第一待检测区域在所述第一发光模式下通过第二滤光片后的第二亮度值Y2；其中，所述第一滤光片和所述第二滤光片的颜色不同；

获取所述第一待检测区域在第二发光模式下通过第一滤光片后的第三亮度值Y3，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下通过第二滤光片后的第四亮度值Y4；

所述根据所述第一待检测区域在第一发光模式下的亮度值，以及所述第一待检测区域在第二发光模式下的亮度值，确定显示画面的品质系数P，包括：

根据所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4，确定显示画面的品质系数P。

可选地，所述根据所述第一亮度值Y1、所述第二亮度值Y2、所述第三亮度值Y3和第四亮度值Y4，确定显示画面的品质系数P，包括：