[发明专利]一种高温磁体不可逆磁通损失的精确预测方法有效
| 申请号： | 201910038602.9 | 申请日： | 2019-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN109711091B | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 张天丽;夏伟;蒋成保;王慧 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 安丽;成金玉 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 高温 磁体 可逆 损失 精确 预测 方法 | ||
1.一种高温磁体不可逆磁通损失的精确预测方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)确定高温磁体将要进行预稳定处理的温度；
(2)测量需要进行预稳定处理的高温磁体的元器件在所述预稳定处理的温度下的退磁曲线，并计算出退磁曲线的近线性段曲线斜率；
(3)确定出需要预稳定处理的高温磁体的元器件形状，并计算出相应的高温磁体的元器件的退磁因子；
(4)将步骤(2)的退磁曲线的近线性段曲线斜率与步骤(3)的退磁因子相乘，即计算得到相应的高温磁体的元器件在所述温度进行预稳定处理后的不可逆磁通损失大小。
2.根据权利要求1所述的一种高温磁体不可逆磁通损失的精确预测方法，其特征在于：所述高温磁体在进行预稳定处理后所产生的不可逆磁通损失通过再次充磁完全恢复。
3.根据权利要求1所述的一种高温磁体不可逆磁通损失的精确预测方法，其特征在于：所述步骤(4)中不可逆磁通损失是指饱和的不可逆损失，即高温磁体元件预稳定处理的保温时间不低于2小时，此时高温磁体所产生的不可逆磁损失直接预测。
4.根据权利要求1所述的一种高温磁体不可逆磁通损失的精确预测方法，其特征在于：所述步骤(4)中，计算得到高温磁体在所述温度进行预稳定处理后的不可逆磁通损失大小，是磁体在开路条件下所产生的磁性能损失。
5.根据权利要求1所述的一种高温磁体不可逆磁通损失的精确预测方法，其特征在于：所述步骤(2)中的退磁曲线是在闭路条件下测量。
6.根据权利要求1所述的一种高温磁体不可逆磁通损失的精确预测方法，其特征在于：所述步骤(2)中所测量的退磁曲线的BH线为直线。
7.根据权利要求1所述的一种高温磁体不可逆磁通损失的精确预测方法，其特征在于：所述方法适用于所有高温100～600℃使用的永磁元件。
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