[发明专利]校准准直器的方法及执行该方法的用于X射线分析的装置

说明书

本发明涉及一种用于校准X射线的准直器(112)的方法以及一种用于X射线分析的包括该准直器(112)并且可自动地执行该方法的装置(1)。

技术领域

本发明涉及一种用于校准用于X射线的准直的准直器的方法以及一种用于X射线分析的包括该准直器并且可自动地执行该方法的装置。

背景技术

用于分析X射线以用于诊断目的的装置允许用户调整所生成的X射线的场，使得该场采用的操作条件最适合于待分析的对象的形状和/或大小和/或特性。该对象可以是人体的一部分。

应当从以下角度理解场的操作条件：该操作条件的变化对应于场的形状和/或至少一个维度和/或取向的变化。

场的操作条件取决于装置的准直器的操作配置和包括准直器本身和X射线的源的设备的位置。准直器准直源的X射线以便获得X射线的场。

这种装置包括接口，终端用户(例如X射线技术人员)可借助于该接口出于X射线分析的目的来选择场C的操作条件。从有必要设置新的选择功能由此终端用户可以选择先前无法选择的新操作条件的角度来看，在有必要改变由终端用户进行选择的至少一种可能性的情况下，技术服务用户的介入是必需的。

技术服务用户事先不知道改变准直器的操作配置和/或改变设备关于场的操作条件的位置的效果将是什么。

因此，他必须在试错(trial and error)基础上行进，这可能需要很长时间。本公开的目的是提供一种用于X射线分析的装置、一种用于校准属于该装置的准直器的校准方法，以及一种用于对该装置的接口进行编程的编程方法，上述装置和方法能够使该缺点得以克服。

该目的借助于具有由所附方法权利要求中任一项所公开的特征的方法和/或借助于具有由所附装置权利要求中任一项所公开的特征的装置来完全实现。

存在专利文献US 2002/122534中所描述的一种用于X射线分析的装置。专利文献US 2002/122534中描述的装置被配置成通过使用数学公式来将改变准直器的操作配置对场的操作条件的影响纳入考虑。这种将准直器的操作配置的变化与场的操作条件的变化相关联的数学公式可以在准直器的更换或者源和准直器之间的距离改变的情况下变化。在US2002/122534中所描述的装置因而在涉及限定场的操作条件的装置的任何组件被改变的情况下要求技术服务用户在系统的几何结构的先验知识的基础上“手动地”更新数学公式，因为这种改变使得有必要重置上述数学公式。一般而言，任何改变(还有在准直器外部的组件的类型中和/或在其互逆(reciprocal)位置中的任何改变)都可能影响准直器的操作配置的变化与场的操作条件的变化之间的相关性，从而需要用户量化这种变化的实体以确保数学公式的正确更新。

在专利文献DE102012205261中描述了用于X射线分析的另一种装置。该装置使得一系列X射线图像能够被相继地记录以便获得复合图像，但是它不能够在关于准直器或装置的其他组件改变的情况下使用户在选择准直器的操作配置时或者在校准装置的操作中得到帮助。

发明内容

根据本公开的用于X射线分析的装置和/或用于校准属于该装置的准直器的方法使得在其中准直器的类型和/或装置的其他组件的类型和/或互逆位置中发生改变的以上提及的情形中有可能克服由于必须“手动地”重新校准该装置的必要性而导致的缺点。

根据本公开的装置的、根据本公开的校准方法的以及根据本公开的编程方法的各特征将通过作为所要求保护的概念的非限制性示例的方式提供的关于所述装置、校准方法和编程方法的相应实施例的以下详细描述来阐明。

附图说明

以下详细描述参考附图，其中：

-图1A和1B解说了初步操作情况，其中根据本公开的装置的可能实施例可被找到；

-图2A和2B解说了第一操作情况，其中该装置的可能实施例可被找到；