[发明专利]一种安检系统以及安检方法在审
申请号: | 201910033064.4 | 申请日: | 2019-01-14 |
公开(公告)号: | CN109782367A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 黄雄伟;祁春超 | 申请(专利权)人: | 河北华讯方舟太赫兹技术有限公司;深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司 |
主分类号: | G01V8/20 | 分类号: | G01V8/20 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 李庆波 |
地址: | 071000 河北省*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 预设位置 安检系统 天线阵列 主体框架 安检 悬臂 天线 扫描驱动器 处理数据量 活动设置 间隔设置 扫描图像 数据处理 悬臂移动 耦接 扫描 驱动 申请 | ||
1.一种安检系统,其特征在于,所述安检系统包括:
主体框架,设置有多个预设位置,所述多个预设位置包括第一预设位置和第二预设位置,且所述第一预设位置与所述第二预设位置间隔设置;
天线悬臂,活动设置在所述主体框架上;
天线阵列组,设置在所述天线悬臂上;
扫描驱动器,设置在所述天线悬臂上,且与所述天线阵列组耦接;
当所述天线悬臂移动至所述主体框架的第一预设位置或第二预设位置时,所述扫描驱动器驱动所述天线阵列组对待检对象进行扫描,以得到扫描图像。
2.根据权利要求1所述的安检系统,其特征在于,所述主体框架上从左往右依次设置有第一位置、第二位置、第三位置、第四位置、第五位置、第六位置和第七位置;
其中,所述第一预设位置包括所述第一位置、所述第二位置和所述第三位置,所述第二预设位置为所述第六位置;
或者,所述第一预设位置为所述第六位置,所述第二预设位置包括所述第一位置、所述第二位置和所述第三位置。
3.根据权利要求2所述的安检系统,其特征在于,其中,所述多个预设位置还包括第三预设位置,所述第三预设位置包括所述第一预设位置和所述第二预设位置以外的预设位置;
当所述天线悬臂移动至所述主体框架的第三预设位置时,所述扫描驱动器停止驱动所述天线阵列组。
4.根据权利要求3所述的安检系统,其特征在于,当所述天线悬臂在所述主体框架上移动时,所述扫描驱动器驱动所述天线阵列组对待检对象进行扫描,以得到原始数据;并对所述原始数据进行稀疏采样,得到所述第一预设位置和所述第二预设位置的采样数据。
5.根据权利要求1所述的安检系统,其特征在于,所述天线阵列组包括发射天线阵列和接收天线阵列;
其中,所述发射天线阵列包括至少一个发射天线阵元,所述接收天线阵列包括至少两个接收天线阵元,所述发射天线阵列的发射天线阵元的数量小于所述接收天线阵列的接收天线阵元的数量;
其中,所述扫描驱动器采用单发双收的收发模式驱动所述发射天线阵列和所述接收天线阵列。
6.根据权利要求5所述的安检系统,其特征在于,所述安检系统为柱面式安检系统,所述柱面式安检系统的主体框架长度为2.00m~2.16m;
其中,所述发射天线阵元和所述接收天线阵元均为边长1cm的正方形喇叭天线。
7.一种安检方法,其特征在于,所述安检方法应用于上述权利要求1~6中任一项所述的安检系统;
所述安检方法包括:
采集待检对象的采样数据,并对所述采样数据进行方位向稀疏表示,得到稀疏表示后的采样数据;
将所述稀疏表示后的采样数据进行成像,得到扫描图像;
将部分所述稀疏表示后的采样数据进行成像,得到参考图像;
根据所述参考图像对所述扫描图像进行干涉处理,并对所述干涉处理后的扫描图像进行稀疏重建,得到所述扫描图像的三维频谱;
对所述三维频谱进行sinc插值处理,并对处理后的所述三维频谱进行三维逆傅里叶变换得到三维图像。
8.根据权利要求7所述的安检方法,其特征在于,所述采集待检对象的采样数据的步骤,进一步包括:
采集待检对象的原始数据,并采用巴克码采样准则对所述原始数据进行稀疏化,得到所述待检对象的采样数据。
9.根据权利要求8所述的安检方法,其特征在于,所述对所述采样数据进行方位向稀疏表示的步骤,进一步包括:
对所述采样数据在方位向稀疏表示为:
Sij(θa)=φkα
Sij=Hφα
其中,F为空间域散强度σn的波数频谱,α为方位向目标散射强度的频域稀疏向量,φ为方位向的观测矩阵,H为巴克码采样矩阵。
10.根据权利要求9所述的安检方法,其特征在于,所述根据所述参考图像对所述扫描图像进行干涉处理的步骤,进一步包括:
所述干涉处理的计算公式为:
所述对所述干涉处理后的扫描图像进行稀疏重建的步骤,进一步包括:
所述稀疏重建的计算公式为:
P=diag{exp(j∠σref)}
其中,αnew为所述扫描图像的三维频谱。P为所述扫描图像的坐标。
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