[发明专利]一种大功率激光器测试系统及方法在审
申请号: | 201910032480.2 | 申请日: | 2019-01-14 |
公开(公告)号: | CN109765473A | 公开(公告)日: | 2019-05-17 |
发明(设计)人: | 柯滔;吕妮娜;曾乾;胡毅;马卫东 | 申请(专利权)人: | 武汉光迅科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01M11/02 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 胡琦旖 |
地址: | 430205 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大功率激光器 测试系统 指标测试 耦合测试 光开关 设备利用率 泵浦激光器 大功率驱动 光功率测试 光器件测试 激光器测试 测试 光谱测试 节约设备 控制电源 人工成本 电流源 | ||
本发明属于光器件测试技术领域,公开了一种大功率激光器测试系统及方法,系统包括测试PC、TEC控制电源、泵浦激光器、大功率驱动电流源、1×2光开关、光谱测试组件、光功率测试组件;通过1×2光开关的切换分别形成耦合测试环路与指标测试环路,通过测试PC的控制分别进行耦合测试和指标测试。本发明能够提高激光器测试效率,提高设备利用率,节约设备及人工成本,并具有良好的通用性。
技术领域
本发明涉及光器件测试技术领域,尤其涉及一种大功率激光器测试系统及方法。
背景技术
在半导体激光器测试领域,激光器的耦合过程中测试是激光器测试的必备场景,而激光器的指标测试也是至关重要的一步步骤,常用的激光器耦合测试与指标测试是将测试设备分别按照耦合测试与指标测试的要求将测试设备串联连接在一起,形成两种测试系统。具体的,耦合测试系统中所有的测试设备通过光纤,设备连接线等连接成一个测试站;而指标测试系统使用另一套测试设备通过光纤,设备连接线等连接成一个测试站。例如将大功率激光器的输出端通过光纤连接到光功率计,就可以测试激光器的耦合测试与PIV测试;而将大功率激光器的输出端通过光纤连接到光谱仪,就可以测试激光器的光谱等。
在上述两种测试系统中,老的测试方法是依靠手工一步步调节各个测试设备参数然后手工记录,而各个测试设备未有机联接为整套系统,并且所连接测试设备需要经常进行不同测试场景的切换,存在容易出错、测试设备占用率不高、灵活性不佳的弊端。
发明内容
本申请实施例通过提供一种大功率激光器测试系统及方法,解决了现有技术中激光器耦合测试与指标测试使用两种独立的测试系统进行,没有有机联接为整套系统,导致测试场景的切换容易出错、测试设备占用率不高、灵活性不佳的问题。
本申请实施例提供一种大功率激光器测试系统,包括:测试PC、TEC控制电源、泵浦激光器、大功率驱动电流源、1×2光开关、光谱测试组件、光功率测试组件;
所述测试PC分别与所述TEC控制电源、所述大功率驱动电流源、所述1×2光开关、所述光谱测试组件、所述光功率测试组件连接,所述TEC控制电源与所述泵浦激光器连接,所述大功率驱动电流源与所述泵浦激光器连接,所述1×2光开关的输入端与所述泵浦激光器连接,所述1×2光开关的输出端分别与所述光功率测试组件、所述光谱测试组件连接。
优选的,所述大功率激光器测试系统还包括:数据库;所述数据库与所述测试PC连接。
优选的,所述光谱测试组件包括:光衰减器、光谱仪,所述光功率测试组件包括光功率计;所述1×2光开关的输出端分别与所述光功率计、所述光衰减器连接,所述光衰减器与所述光谱仪连接。
优选的,所述TEC控制电源设置温度范围为-45℃~85℃。
优选的,所述大功率驱动电流源设置输入电流范围为0~120A。
利用上述大功率激光器测试系统,本申请实施例提供一种大功率激光器测试方法,通过1×2光开关的切换分别形成耦合测试环路与指标测试环路,通过测试PC的控制分别进行耦合测试和指标测试。
优选的,所述耦合测试包括以下步骤:
S1:测试PC向TEC控制电源发送设置工作温度命令;
S2:等待工作温度稳定后,测试PC向大功率驱动电流源发送设置驱动电流命令;
S3:测试PC向1×2光开关发送切换至光功率测试组件光路命令;
S4:测试PC向光功率测试组件发送读取输入光功率命令;
S5:分别依序进行“点胶”、“胶固化”、“焊尾管”步骤后重复S1~S4;
S6:得到光功率值后由测试PC进行是否合格判断,获得测试结果。
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