[发明专利]测量体积的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201910031293.2 申请日: 2019-01-14
公开(公告)号: CN111435069B 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 王强;韩俊焜;陈睿;李家铭;田粉粉;许聪;文彦峰 申请(专利权)人: 顺丰科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02;G06V10/764;G06V10/774;G06K9/62
代理公司: 北京瑞盟知识产权代理有限公司 11300 代理人: 刘昕
地址: 518000 广东省深圳市南山区学府路(以南)*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测量 体积 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种测量体积的方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1. 通过增强现实模块获取待测物的图像;

S2. 将所述待测物的图像与图像识别库进行匹配,以获取定点坐标,所述定点能够构成空间图形,根据所述定点能够还原出待测物的形状;

S3. 根据所述定点坐标计算所述待测物的体积,

所述步骤S3进一步包括如下步骤:

S31. 通过所述增强现实模块计算图像获取点的坐标;

S32. 通过所述增强现实模块将待测物的定点映射至待测物的底面上,得到映射点的坐标;

S33. 根据所述映射点、图像获取点和定点的坐标绘制待测物模型,计算待测物的体积,

当所述待测物为立方体时,所述步骤S33进一步包括如下步骤:

选取上下对应的一对定点作为上参考点和下参考点;

根据所述图像获取点的坐标和所述下参考点的坐标计算所述图像获取点、与所述上参考点对应的映射点、下参考点三者连线的夹角,根据该夹角计算所述上参考点和所述下参考点连线的长度;

根据所述上参考点和所述下参考点连线的长度计算所述上参考点、与所述上参考点相邻的两个定点的坐标,并绘制出待测物的模型;

根据立方体体积公式计算待测物的体积。

2.根据权利要求1所述的测量体积的方法,其特征在于,

所述步骤S1进一步包括如下步骤:

S11.通过所述增强现实模块生成标记平面;

S12.将所述待测物置于所述标记平面上,拍摄得到所述待测物的图像。

3.根据权利要求1所述的测量体积的方法,其特征在于,

所述图像识别库是通过收集空间图形而训练分类器得到的。

4.根据权利要求1所述的测量体积的方法,其特征在于,

在所述步骤S2中,所述待测物的图像以byte或Bitmap的方式传入所述图像识别库进行匹配。

5.根据权利要求1所述的测量体积的方法,其特征在于,

所述空间图形为立方体。

6.根据权利要求1所述的测量体积的方法,其特征在于,

在所述步骤S2中,若所述待测物的图像与所述图像识别库匹配失败,则重新获取待测物的图像。

7.根据权利要求1所述的测量体积的方法,其特征在于,

在所述步骤S1获取所述待测物的图像之后,还包括判断是否正在计算体积的步骤,如果是,则跳过将所述待测物的图像与所述图像识别库进行匹配的步骤。

8.一种测量体积的装置,其特征在于,包括:

图像获取模块,用于通过增强现实模块获取待测物的图像;

图像识别库,用于匹配所述待测物的图像,给出待测物定点坐标,所述定点能够构成空间图形,根据所述定点能够还原出待测物的形状;

体积计算模块,用于根据所述定点坐标计算所述待测物的体积,

所述体积计算模块进一步通过如下步骤计算所述待测物的体积:

S31. 通过所述增强现实模块计算图像获取点的坐标;

S32. 通过所述增强现实模块将待测物的定点映射至待测物的底面上,得到映射点的坐标;

S33. 根据所述映射点、图像获取点和定点的坐标绘制待测物模型,计算待测物的体积,

当所述待测物为立方体时,所述步骤S33进一步包括如下步骤:

选取上下对应的一对定点作为上参考点和下参考点;

根据所述图像获取点的坐标和所述下参考点的坐标计算所述图像获取点、与所述上参考点对应的映射点、下参考点三者连线的夹角,根据该夹角计算所述上参考点和所述下参考点连线的长度;

根据所述上参考点和所述下参考点连线的长度计算所述上参考点、与所述上参考点相邻的两个定点的坐标,并绘制出待测物的模型;

根据立方体体积公式计算待测物的体积。

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