[发明专利]一种对传感器姿态融合测量方法进行优化的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201910028116.9 申请日: 2019-01-11
公开(公告)号: CN109631875A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 楚明磊;董泽华;张浩;陈丽莉;王雪丰;孙玉坤;赵斌 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G01C21/00 分类号: G01C21/00;G01C1/00
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 传感器姿态 测量 融合 姿态误差 机器视觉 姿态测量 优化 预设 计算机存储介质 比对基准 测量参数 基准调整 基准确定 空间目标 所述空间 运动过程 姿态数据 比对
【权利要求书】:

1.一种对传感器姿态融合测量方法进行优化的方法,其特征在于,包括:

利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态;

利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态;

将所述第一姿态与第二姿态在同一坐标系下进行比对并获得姿态误差,若姿态误差不满足预设范围,以所述第一姿态为基准调整所述传感器姿态融合测量方法的测量参数,重新获得所述第一姿态和第二姿态直至所述姿态误差满足所述预设范围。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态包括获得多个第一姿态;

所述利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态包括获得与所述多个第一姿态相对应的多个第二姿态;

若检测到的多个姿态误差随时间逐渐增加,则确定所述传感器姿态融合测量方法存在零点漂移。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

所述利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态包括获得多个第一姿态;

所述利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态包括获得与所述多个第一姿态相对应的多个第二姿态;

若检测到在所述多个第一姿态的极值和多个第二姿态的极值处存在姿态误差,则确定所述传感器姿态融合测量方法存在极值点误差。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,

所述多个第一姿态和多个第二姿态以曲线形式显示。

5.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,

所述利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态包括通过图像采集装置在不同时刻对所述空间目标上的标记进行图像采集从而获得多个第一姿态;

所述利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态包括通过设置在所述空间目标上的传感器在对应时刻对所述空间目标进行采集从而获得多个第二姿态。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述第一姿态与第二姿态在同一坐标系下进行比对并获得姿态误差进一步包括:

统一所述第一姿态和第二姿态的数据格式;

将所述第一姿态和第二姿态转换到同一坐标系中;

比对所述第一姿态和第二姿态并计算姿态误差。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述通过图像采集装置在不同时刻对所述空间目标上的标记进行图像采集从而获得多个第一姿态进一步包括:

标定所述图像采集装置;

接收所述图像采集装置采集的所述标记的二维图像;

对所述二维图像进行光斑检测以获得所述标记的标记点图像的二维位置;

根据所述标记预存储的各标记点的三维位置和所述标记点图像的二维位置计算出所述第一姿态。

8.根据权利要求5所述的优化方法,其特征在于,所述通过设置在所述空间目标上的传感器在对应时刻对所述空间目标进行采集从而获得多个第二姿态进一步包括:

接收所述传感器采集的初始数据并进行校正;

使用传感器姿态融合测量方法计算出所述第二姿态。

9.一种对传感器姿态融合测量方法进行优化的系统,其特征在于,包括机器视觉姿态测量装置、传感器姿态融合测量装置和控制装置;其中

所述机器视觉姿态测量装置,获得空间目标的第一姿态;

所述传感器姿态融合测量装置,获得所述空间目标的第二姿态;

所述控制装置,用于将所述第一姿态与第二姿态在同一坐标系下进行比对并获得姿态误差,若姿态误差不满足预设范围,以所述第一姿态为基准调整所述传感器姿态融合测量方法的测量参数,重新获得所述第一姿态和第二姿态直至所述姿态误差满足所述预设范围。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的方法。

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