[发明专利]一种WIFI集成电路灵敏度测试方法及测试系统在审

专利信息
申请号: 201910025066.9 申请日: 2019-01-07
公开(公告)号: CN109768836A 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 张文波;颜峻 申请(专利权)人: 中科威发半导体(苏州)有限公司
主分类号: H04B17/29 分类号: H04B17/29;H04W24/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215021 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 灵敏度测试 集成电路 工作站 测试应用程序 测试系统 测试应用 程序控制 无线链路 测试仪 使用权 读取 抗干扰能力 测试 屏蔽环境 正确数据 发射 控制帧 灵敏度 数据帧 电子产品 捕获 灵敏 预订 扫描 释放 记录 配置
【说明书】:

本发明涉及电子产品技术领域,提供了一种WIFI集成电路灵敏度测试方法及测试系统,其中测试方法包括:启动测试应用程序控制WIFI测试仪扫描、捕获无线链路中所有的WIFI基站与工作站,记录WIFI基站与工作站信息;所述测试应用程序配置WIFI集成电路进入灵敏度测试模式;所述测试应用程序控制WIFI测试仪发射一组WIFI控制帧,强迫所述WIFI基站与工作站释放无线链路使用权,同时预订WIFI链路使用权与时间,随后发射用于灵敏度测试的数据帧;所述测试应用程序读取WIFI集成电路对正确数据帧的计数,完成灵敏度测试。该方法提高WIFI集成电路灵敏度过程中抗干扰能力,提高灵敏测试精度,降低对屏蔽环境的要求。

技术领域

本发明涉及电子产品技术领域,提供了一种WIFI集成电路灵敏度测试方法及测试系统。

背景技术

随着物理网技术的发展,WIFI通信技术在日常生活中日渐重要,而WIFI集成电路作为WIFI通信技术的核心电路,至关重要。WIFI集成电路灵敏度是WIFI集成电路的基本参数,是评判WIFI集成电路接收性能的重要指标。对WIFI集成电路进行准确、高效的灵敏度测试是WIFI集成电路研发、生产过程中的的重要内容。

传统WIFI集成电路灵敏度测试对环境要求严格,特别是在WIFI基站与工作站复杂的环境下,需要将WIFI集成电路至于屏蔽箱中,才可进行灵敏度测试。屏蔽箱开关操作,严重影响了测试时间,同时屏蔽箱作为机械部件,在频繁的开关过程中容易造成损耗,使屏蔽效果降低,影响测试准度和测试效率。

针对当前WIFI集成电路测试方法,虽然一些业内人士提出了一下方法,如专利:201611117810.0所描述的测试方法,将WIFI集成电路接收信号由被动方式改为主动方式,来降低其他WIFI基站与工作站的干扰。这样必然会增加测试时间,改变WIFI集成电路统计接收数据包的方式也值得商榷。

发明内容

本发明的目的在于提供一种WIFI集成电路灵敏度测试方法及测试系统,具体体现在两个方法如下:

一方面包括一种WIFI集成电路测试方法:

首先,测试应用程序控制WIFI测试仪,使用WIFI测试仪天线扫描、捕获无线链路中所有的WIFI基站与工作站,记录WIFI基站与工作站信息,包括基站ssid、发射功率、基站MAC地址信息、工作站MAC地址信息。

随后应用程序配置WIFI集成电路进入灵敏度测试模式,在该灵敏度测试模式下,WIFI集成电路处于WIFI信号接收状态。在该状态下WIFI集成电路收到的WIFI帧后仅对对地址位信息匹配的数据帧进行处理,并进一步判断WIFI信号是否完整,如果完整进行计数,否则不进行计数,随后返回状态做好下一帧数据接收准备;对于地址位信息不匹配的数据帧直接丢弃,返回状态,做好下一帧数据接收准备。

紧接着,应用程序控制WIFI测试仪发射一组WIFI控制帧,用于抢占WIFI无线链路使用权,使WIFI测试仪中记录的WIFI基站与工作站停止发射WIFI信号,并为WIFI集成电路灵敏度测试争取无线链路使用权时间,该时间长度不低于WIFI灵敏度测试需要的时间长度;WIFI控制帧包括RTS帧、CTS帧或其他可获得无线链路使用权的控制帧,控制帧广播发射、组播发射、单点发射方式进行发射,发射数量数量与间隔可根据所述WIFI基站与工作站数量进行调整。

WIFI测试仪在发射控制帧后,随即发射用于灵敏度测试的WIFI数据帧,数据帧地址位信息与WIFI集成电路配置的地址位相匹配,且除最后一帧数据外所有数据帧的FrameControl位中的More Fragments bit为1。

另一方面包括一种集成电路灵敏度测试系统,组成如下:

启动WIFI集成电路灵敏度测试的应用程序,用于控制WIFI测试仪完成WIFI基站与工作站的扫描、捕获、记录工作;同时控制WIFI集成电路进入灵敏度测试模式。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中科威发半导体(苏州)有限公司,未经中科威发半导体(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910025066.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top