[发明专利]基于全光光场计算的圆柱体外表面检测装置在审
| 申请号: | 201910021566.5 | 申请日: | 2019-01-10 |
| 公开(公告)号: | CN111426285A | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
| 发明(设计)人: | 高秀敏;张庆立 | 申请(专利权)人: | 上海明念激光科技有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 200082 上海市杨浦区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 光光 计算 圆柱 体外 表面 检测 装置 | ||
1.一种基于全光光场计算的圆柱体外表面检测装置,包括相干照明光源(1)、照明光束整形器(2)、第一光束偏折部件(3)、第二光束偏折部件(4)、圆柱体(5)、第一成像部件(6)和第二成像部件(7)、光束合成器(8)、全光光场减法部件(9)、探测器(10),其特征在于:所述圆柱体(5)包括被检测区域(501)、被检测区域(502);所述全光光场减法部件(9)由入瞳(901)和入瞳(902)、凸透镜(903)、正弦光栅(904)、凸透镜(905)组成;经由第一光束偏折器件(3)和第二光束偏折器件(4)偏折的光分别照射到(501)和(502)的圆柱体外表面被检测区域。光束合成器(8)将光正好合成到全光光场减法部件(9)的入瞳(901)处,经(901)入瞳的光束经过凸透镜(903)和正弦光栅(904),再经由凸透镜(905)聚焦到全光光场减法的出瞳处。
2.根据权利要求1所述的基于全光光场计算的圆柱体外表面检测装置,其特征在于:所述的照明光源(1)为相干照明光源。
3.根据权利要求1所述的基于全光光场计算的圆柱体外表面检测装置,其特征在于:所述的全光光场减法部件(9)中的光栅(904)为正弦光栅。
4.根据权利要求1所述的基于全光光场计算的圆柱体外表面检测装置,其特征在于:所述探测器(10)将圆柱体表面缺陷信息单点传感,以曲线的形式输出。
5.根据权利要求1所述的基于全光光场计算的圆柱体外表面检测装置,其特征在于:所述的被检测圆柱体(5)的被检测区域(501)与(502)包含圆柱体检测装置的1/2区域。
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