[发明专利]一种分屏Mura的快速判断方法

说明书

本发明属于显示技术领域，公开了一种分屏Mura的快速判断方法，选取待检测图像中线附近的带状区域作为检测区域，通过滑动窗口在检测区域内滑动获得灰度均值差值，将差值的最大值与设定的阈值进行比较，若差值的最大值大于阈值，则判定为分屏Mura异常，否则判定为正常显示屏。本发明能够简单高效地判断显示屏的分屏Mura缺陷，满足用户判断准确性需求的同时缩短检测时间。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种分屏Mura的快速判断方法。

背景技术

平板显示器的生产过程中不可避免的会出现色斑缺陷(Mura)。Demura设备是一款集成高精度专业信号发生器，标准光学测量仪器，自动压接和控制调节软件于一体的色斑缺陷修复系统。在色斑修复系统中，TFT-LCD常出现一些异常缺陷，如点类异常、异物、线类异常等，最常见的缺陷是压接后出现分屏Mura。

分屏Mura如果漏检，直接修复后显示屏会出现异常现象，流到后工序造成严重的影响。Demura设备系统决定了检测分屏Mura只能在指定的灰阶画面，因此简单高效的检测分屏Mura成为需要解决的问题。

分屏Mura的特征是不明显的弱线，目前针对分屏Mura的检测方法有很多种，都是基于经典的边缘检测及直线提取方法而进行改进的。如基于梯度的边缘检测算子，是传统的边缘检测方法，对图像各个像素点进行一阶微分，常用的有Roberts算子、Prewitt算子和Sobel算子；这种方法可能会导致检测出过多的边缘点，使得到的边缘图像较为粗糙。如基于二阶微分的边缘检测算子，对图像各个像素点进行二阶微分，常用的有Laplace算子、LOG算子和Canny算子；这种方法对于无噪声的图像会使边缘模糊，故使用中常选取稍大的滤波尺度，但易使图像的某些边缘细节特征丢失掉。如小波多尺度边缘检测，利用小波变换的多尺度特性，获取图像的多尺度边缘信息，通过调整小波变换的尺度，获得图像的细节边缘信息；这种方法存在的问题是多尺度边缘检测算子的选择和如何自适应的确定边缘检测时的最佳滤波尺度。

发明内容

本申请实施例通过提供一种分屏Mura的快速判断方法，能够简单高效地判断显示屏的分屏Mura缺陷，满足用户判断准确性需求的同时缩短检测时间，以克服现有技术中的不足。

本申请实施例提供一种分屏Mura的快速判断方法，包括以下步骤：

获取待检测图像；

选取检测区域，所述检测区域为位于所述待检测图像中线附近的带状区域；

选取滑动窗口，所述滑动窗口沿窗口中线划分为左部区域和右部区域；

所述滑动窗口在所述检测区域内滑动，且所述滑动窗口每滑动第一距离，分别获取所述左部区域和所述右部区域的灰度均值，并根据所述左部区域和所述右部区域的灰度均值获得灰度均值差值；

所述滑动窗口滑动结束后获得多个灰度均值差值，根据多个灰度均值差值获得差值的最大值；

将所述差值的最大值与设定的阈值进行比较，若所述差值的最大值大于所述阈值，则判定为分屏Mura异常，否则判定为正常显示屏。

优选的，所述检测区域关于所述待检测图像的中线对称。

优选的，所述待检测图像具有第一宽度和第一高度，所述检测区域具有第二宽度和第一高度，所述滑动窗口具有第三宽度和第一高度。

优选的，所述第二宽度为60个像素，所述第三宽度为6个像素。

优选的，所述第一距离为1个像素。

优选的，所述滑动窗口由所述检测区域的起始位置向所述检测区域的终止位置滑动。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：