[发明专利]一种测试板和测试系统

说明书

本发明公开了一种测试板和测试系统。其中，测试板包括转接板和主板，转接板与主板通过连接器可拆卸电连接。主板上设置有第一连接接口、系统电源模块和系统处理模块，转接板设置有第二连接接口和至少一种功能板卡，转接板与主板电连接后，系统电源模块以及系统处理模块与至少一种功能板卡电连接，系统电源模块用于向至少一种功能板卡提供电源。通过灵活的搭配测试板的测试功能，既可以实现测试板具有不同的功能，集成度高，同时可以使测试板更具有灵活性。另外可以采用同一测试板进行不同的功能测试，避免了在测试过程中更换测试板实现不同的功能测试的现象，从而可以减少测试板主板的使用，从而降低了测试板主板的硬件成本，进而降低了测试成本。

技术领域

本发明实施例涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种测试板和测试系统。

背景技术

半导体测试主机主要用于测试半导体的性能。在半导体测试主机测试过程中，每一块测试板可以完成一个功能的测试，测试主机需要插入不同的测试板，从而完成一个被测件的测试需求。图1为现有技术提供的一种测试板的结构示意图，如图1所示，测试板包括主板100、输入端接口200和输出端接口300。主板上设置有功能集成电路，因此测试板具有功能集成电路的功能。通过将测试板插入到测试主机中，即可实现对被测件的功能集成电路的功能测试。但是，集成的测试板的功能种类有限，而且测试主机的插口也有限，同时插入测试主机的测试板的数量有限，因此测试主机同时测试被测件的数量有限，从而限制了测试主机的测试灵活性。另外，为了使测试板能够实现更多的测试功能，因此测试板设计的电路相对复杂，并且当测试板测试一般的功能时，测试板上的很多电路不起作用，相对浪费，导致测试成本高。

发明内容

本发明提供一种测试板和测试系统，以实现同一测试板可以实现不同的测试功能，同时提高测试板的灵活性，降低了测试成本。

第一方面，本发明实施例提供了一种测试板，包括转接板和主板，所述转接板与所述主板通过连接器可拆卸电连接；

所述主板上设置有第一连接接口、系统电源模块和系统处理模块，所述第一连接接口作为测试板的输入端接口，实现与测试主机的数据通信；

所述转接板设置有第二连接接口和至少一种功能板卡，所述第二连接接口作为所述测试板的输出端接口，实现与被测件电连接；

所述转接板与所述主板电连接后，所述系统电源模块以及所述系统处理模块与至少一种功能板卡电连接，所述系统电源模块用于向至少一种功能板卡提供电源。

可选地，所述主板上设置有第一连接器，所述转接板上设置与所述第一连接器配合的第二连接器，所述主板与所述转接板之间通过第一连接器和所述第二连接器可拆卸电连接。

可选地，所述系统处理模块包括第一主处理器和第一协处理器，所述第一主处理器和第一协处理器均与所述系统电源模块以及对应的所述第一连接器电连接；至少一种所述功能板卡与所述第二连接器电连接。

可选地，所述系统处理模块还包括第二主处理器和第二协处理器，所述第二主处理器和所述第二协处理器均与所述系统电源模块以及对应的所述第一连接器电连接。

可选地，所述第一主处理器和第一协处理器与所述第二主处理器和第二协处理器在所述主板上对称设置。

可选地，所述第一连接器和所述第二连接器的个数均有多个，多个所述第一连接器和多个所述第二连接器一一对应。

可选地，所述主板上还集成有测试功能模块。

可选地，所述测试功能模块包括数字引脚测试模块和电源功能测试模块。

可选地，所述被测件为芯片，所述功能板卡包括用以测试所述芯片射频功能的射频功能测试板卡和/或用以测试所述芯片模拟功能的模拟板卡。

本发明还公开了一种测试系统，包括测试主机和测试板，所述测试板的所述第一连接接口插接于所述测试主机的插槽。