[发明专利]一种用于农残检测系统的光学校准芯片

说明书

本发明公开了一种农残检测系统的校准芯片，包括芯片基板和吸光组件；其中，吸光组件由不同吸光度的透光件组成，并且不同吸光度的透光件分别设置在芯片基板开设的贯穿孔内。本发明提供了一种用于农残检测系统的光学校准芯片，主要应用于农药残留快速检测设备中光学系统的校准；便携农残快检设备中引入光学校准芯片，可以提升农残抑制率检测结果的准确性，进一步提升农残快检设备评判结果的可靠性。

技术领域

本发明涉及食品安全技术领域，更具体的说是涉及一种用于农残检测系统的光学校准芯片。

背景技术

在食品安全快检领域，国标中规定了农药残留基于酶抑制方法。其核心是利用在一定时间内检测吸光度的变化，并和对照样本的吸光度变化经过一定的数学公式处理换算出酶抑制率，并基于酶抑制率判断农药残留是否超标。传统的方法采用分光光度计测量吸光度的变化，精度比较高。传统的分光光度计体积比较大，使用环境要求苛刻。便携的农残快检仪一般采用半导体LED光源，并利用光敏二极管进行信号检测。而基于半导体LED光源和光敏二极管的光学系统信号的一般发生非线性变化，因此影响到检测结果的准确性。

因此，如何提供一种用于农残快检设备的光学校准芯片是本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种用于农残检测系统的光学校准芯片，主要应用于农药残留快速检测设备中光学系统的校准；在便携农残快检设备中引入光学校准芯片，可以提升农残抑制率检测结果的准确性，进一步提升农残快检设备评判结果的可靠性。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种农残检测系统的校准芯片，包括芯片基板和吸光组件；其中，吸光组件由不同吸光度的透光件组成，并且不同吸光度的透光件分别设置在芯片基板上开设的贯穿孔内，贯穿孔贯穿芯片基板的上下端面。

实际校准过程中，农残快检设备分别检测各个透光件的吸光度值，并与透光件的理论吸光度值进行比对，经过曲线拟合方法将农残快检设备的吸光度值换算为真实值。基于此真实值计算出来的农残抑制率值准确度得到提升。

优选的，在上述一种农残检测系统的校准芯片中，吸光组件由吸光度等梯度变化的透光件组成。

优选的，在上述一种农残检测系统的校准芯片中，通过将相同的第一透光板叠加构成透光件。

优选的，在上述一种农残检测系统的校准芯片中，透光件为不同厚度的第二透光板。

优选的，在上述一种农残检测系统的校准芯片中，第一透光板和第二透光板均为石英玻璃片。

石英玻璃片具有良好的光学透光性，对各频率的光信号具有相对平稳的吸光性，其吸光度值与石英玻璃片的数量和厚度成正比。

优选的，在上述一种农残检测系统的校准芯片中，芯片基板为圆盘形，多个不同吸光度的透光件呈环状均匀分布在芯片基板上。

优选的，在上述一种农残检测系统的校准芯片中，芯片基板为条形，多个不同吸光度的透光件均匀排列在芯片基板上。

经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本发明公开提供了一种用于农残检测系统的光学校准芯片，校准芯片由一系列具有不同吸光度的光学组件组成，优先选择吸光度等阶梯度变化的透光件。实际校准过程中，农残快检设备分别检测各个光学组件的吸光度值，并与组件的理论吸光度值进行比对，经过曲线拟合方法将农残快检设备的吸光度值换算为真实值。基于此真实值计算出来的农残抑制率值准确度得到提升。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。